[发明专利]开槽零件尺寸测量方法有效
申请号: | 201710191728.0 | 申请日: | 2017-03-28 |
公开(公告)号: | CN106840006B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
发明(设计)人: | 刘红;王超;姚江伟;张云江;付胜楠;刘海梅;曹昆武 | 申请(专利权)人: | 核工业理化工程研究院 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08 |
代理公司: | 北京润捷智诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11831 | 代理人: | 安利霞 |
地址: | 300180 *** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 开槽 零件 尺寸 测量方法 | ||
1.一种开槽零件尺寸的测量方法,其特征在于:包括以下步骤:
a)调整零位
将测量具组件(1)固定在测长仪两端测量杆(5)上,使两个测量部(32)的薄片面水平放置,锁紧紧固螺钉(4),当被测零件(8)尺寸小于100mm时,调整使测长仪使两个测头(3)的测量面平行并接触,调整仪器读数为零,当零件的尺寸大于100mm,用一个小于零件尺寸,且是整数的四等量块,调整仪器的零位,直至仪器毫米读数为零,毫米以下读数为量块的偏差,即调整好仪器的零位,将测长仪活动端移开,两测头之间距离大于零件的最大直径10mm以上;
b) 放置零件
首先将被测零件(8)平放在测长仪工作台(6)上,使被测零件(8)底面与测长仪工作台(6)接触,被测零件(8)在测长仪工作台(6)上的左右位置要保证两端的测头(3)能够接触到被测面,在工作台上放置一个薄型V型定位块(7)固定被测零件(8);
c) 调整仪器
粗调测长仪工作台(6)上下位置,并移动被测零件(8)使其中心通过两个测头中心线位置,并使测头(3)的测量部(32)的薄片状部分进入A截面开槽部位;先粗调平台前后和测长仪工作台(6)左右摆动角度,然后微调测长仪工作台(6)平台前后位置,在镜头中找到最大值,最后微调工作台左右摆动角度,找到最小值,此时镜头中读数值,加上量块数值即为开槽直径测量值;
d) 移开测长仪测量杆(5)活动一端,保持V型定位块(7)不动,径向转动被测零件(8)45度,至第b位置,重复b)和c)步骤;
按上述方法,分别出测量c和d位置直径尺寸;
e)完成A截面尺寸测量之后,移开测长仪活动一端,并将被测零件(8)移出,升高仪器工作台,至B截面开槽位置,重复b)、c)及d)步骤,按上述方法,分别测量出a至d位置直径尺寸;
所述方法采用的开槽零件尺寸测量用具,包括均通过紧固螺钉(4)安装于测长仪的测量杆(5)上的一对测量具组件(1),所述测量具组件(1)包括过盈连接的测帽(2)和测头(3);所述测头(3)由阶梯轴状连接部(31)和由连接部(31)大径段端面对称中心线圆弧过渡成薄片形状的测量部(32)组成;测量部(32)的薄片面水平放置;被测零件(8)的中心通过两个测头中心线位置;还包括用于固定被测零件(8)的薄型V型定位块(7)。
2.根据权利要求1所述的开槽零件尺寸的测量方法,其特征在于:所述测帽(2)为中间形成阶梯孔(21)的圆柱形结构,阶梯孔(21)大孔端端面形成圆台(22),大孔端中段外壁一侧形成凸起(23),另一侧形成半圆型凸弧(24),凸起(23)上形成沿径向设置的螺孔(25)。
3.根据权利要求2所述的开槽零件尺寸的测量方法,其特征在于:所述凸起(23)的上端面为圆弧面,两侧面为相互对称的两个平面,且两侧面均与上端面所在圆相交,与测帽(2)外壁所在圆相切。
4.根据权利要求2所述的开槽零件尺寸的测量方法,其特征在于:所述阶梯孔(21)的大孔端内径与测量杆(5)外径小间隙配合。
5.根据权利要求1所述的开槽零件尺寸的测量方法,其特征在于:所述测量部(32)的薄片处的厚度为小于被测开槽尺寸的宽度,薄片处的长度大于开槽尺寸的深度。
6.根据权利要求1所述的开槽零件尺寸的测量方法,其特征在于:所述连接部(31)小径段外径与阶梯孔(21)小孔端内径过盈配合。
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