[发明专利]放射线检测装置和放射线成像系统有效
申请号: | 201710190956.6 | 申请日: | 2017-03-28 |
公开(公告)号: | CN107238853B | 公开(公告)日: | 2020-01-17 |
发明(设计)人: | 猿田尚志郎;野村庆一;长野和美 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 11293 北京怡丰知识产权代理有限公司 | 代理人: | 迟军 |
地址: | 日本国东京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检测 装置 成像 系统 | ||
提供了一种放射线检测装置和放射线成像系统。该放射线检测装置包括外壳、布置成在外壳中彼此重叠的第一放射线成像面板和第二放射线成像面板,以及布置在第一放射线成像面板和第二放射线成像面板之间的放射线吸收部分。放射线吸收部分包括K吸收边处的能量不小于38keV且不大于60keV的第一构件。第一构件包括添加有包含从由镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒和铥构成的组中选择的至少一种元素的颗粒的树脂。
技术领域
本发明涉及放射线检测装置和放射线成像系统。
背景技术
放射线检测装置被广泛地用于医学成像诊断和非破坏性检查。已知通过使用这种放射线检测装置使用具有不同能量成分的放射线获得对象的多个放射线图像、并且基于所获得的放射线图像之间的差异获得特定对象部分被分离或强调的能量减影图像(energysubtraction image)的方法。日本专利特开No.5-208000、2011-235、2011-22132、2001-249182和2000-298198提出了如下的放射线检测装置:该放射线检测装置通过使用两个放射线成像面板利用放射线对对象的一次照射(一次曝光(one shot)方法)来记录具有两个不同能量成分的放射线的放射线图像,以便获得能量减影图像。日本专利特开No.5-208000公开了铜板作为用于吸收放射线的低能量成分的构件布置在两个放射线成像面板之间。日本专利特开No.2011-235和2011-22132公开了金属板被用作这种构件,该构件包含Al、Ti、Ag、Pb、Fe、Ni、Cu、Zn、La、Cs、Ba、Sn、Sb、Tb、Ce或Sm作为主要成分并且具有50μm至450μm的厚度。日本专利特开No.2001-249182和2000-298198公开了使用具有不同放射线吸收特性的材料的放射线成像面板的使用。
发明内容
对于日本专利特开No.5-208000中所公开的铜板,有可能会彼此不充分地分离放射线的高能量成分和低能量成分,并且所获得的能量减影图像的质量将恶化。此外,当在日本专利特开No.2011-235和2011-22132中所公开的金属板在50μm至450μm的厚度范围内被使用时,它也带来与日本专利特开No.5-208000中相同的问题。此外,由Ag、La、Cs、Ba、Sb、Tb、Ce或Sm制成的金属板实际上不能获得或非常昂贵,因此放射线检测装置的制造成本可能增加。而且,根据日本专利特开No.2001-249182和2000-298198,两种类型放射线成像面板的使用增加了构造放射线检测装置的构件的数量,因此会增加放射线检测装置的制造成本。
本发明的一些实施例提供了在通过在放射线检测装置中使用两个放射线成像面板来利用放射线的一次照射获得能量减影图像方面有利的技术。
根据一些实施例,提供了放射线检测装置,其包括:外壳;布置成在外壳中彼此重叠的第一放射线成像面板和第二放射线成像面板;以及布置在第一放射线成像面板和第二放射线成像面板之间的放射线吸收部分,其中放射线吸收部分包括K吸收边处的能量不小于38keV且不大于60keV的第一构件,并且第一构件包括添加有包含从由镧、铈、镨、钕、钷、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒和铥构成的组中选择的至少一种元素的颗粒的树脂。
根据一些实施例,提供了放射线检测装置,其包括:外壳;布置成在外壳中彼此重叠的第一放射线成像面板和第二放射线成像面板;以及布置在第一放射线成像面板和第二放射线成像面板之间的放射线吸收部分,其中放射线吸收部分包括包含K吸收边处的能量不小于38keV且不大于60keV的元素的第一构件以及包含除第一构件中的所述元素之外的元素的第二构件,并且相对于第一放射线成像面板和第二放射线成像面板不生成可见光。
根据下面(参考附图)对示例性实施例的描述,本发明的其它特征将变得清楚。
附图说明
图1A至1D是示出根据本发明的实施例的放射线检测装置的布置的示例的截面图;
图2是示出在镧系的各个元素的K吸收边处的能量的图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佳能株式会社,未经佳能株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710190956.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种面阵目标搜索扫描成像装置及方法
- 下一篇:浅井检波系统