[发明专利]一种超高层建筑物倾斜测量方法在审

专利信息
申请号: 201710170480.X 申请日: 2017-03-21
公开(公告)号: CN106931942A 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 吴飞;鲜泽文 申请(专利权)人: 中冶成都勘察研究总院有限公司
主分类号: G01C9/00 分类号: G01C9/00
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司51230 代理人: 李小金,王正楠
地址: 610000 四川省成都市锦江*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 超高 建筑物 倾斜 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明属于建筑物测量技术领域,具体涉及一种超高层建筑物倾斜测量方法。

背景技术

目前,随着城市建设,城市中高层及超高层建筑日渐增多,在施工及使用过程中,需要对这些建筑物做倾斜监测,倾斜监测可以用相邻柱基沉降差及其他常规方法来监测,但总体来说,这些方法对高层及超高层建筑物不能真实客观地反映倾斜量及倾斜率,同时采用常规的全站仪上下投点观测往往又受场地(不通视,如伸出的阳台、窗户等)及仪器本身条件的限制(仰角过大、超出测程等)无法满足高(超高)层建筑倾斜测量。

发明内容

本发明为了解决全站仪上下测定点受到场地及仪器本身条件的限制无法进行高层建筑物倾斜值的问题,而提供一种超高层建筑物倾斜测量方法,能够准确的测量出超高层建筑物的倾斜率。

为解决技术问题,本发明所采用的技术方案是:

一种超高层建筑物倾斜测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

A、在地面找出至少三个控制点并形成一坐标系;

B、在楼顶找出至少三个控制点,获得一坐标系下地面和楼顶的多个点的坐标;

C、通过地面控制点测定下测定点的坐标及高程,通过楼顶控制点测定上测定点的坐标及高程,其中下测定点和上测定点在同一外棱角线上;

D、通过计算下测定点和上测定点的水平坐标位移差及高程差的比值即得到建筑物的倾斜值。

上述步骤A中在地面找出三个控制点并形成一坐标系,上述步骤B中在楼顶找出三个控制点,获得地面三个控制点和楼顶三个控制点在同一坐标系下的坐标。

上述步骤A、B和C的具体过程为:在地面及楼顶布设满足规范要求的GPS控制网及拟合高程,在不同观测时间段,分别解算出地面三个控制点的坐标及高程和楼顶三个控制点的坐标及高程;同时利用地面及楼顶的三个控制点使用全站仪分别测量建筑物同一外棱角线上的上测定点和下测定点的坐标及高程,通过比对不同时期相同位置的坐标数据即可计算出倾斜值。

与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:

本发明提供的超高层建筑物倾斜测量方法解决了全站仪上下测定点受到场地(不通视)及仪器本身条件的限制(仰角过大、超出测程等)无法进行高层(超高层)建筑物倾斜值的问题,相比于现有的全站仪测量方法,获得的建筑物的倾斜值更加准确和真实,提高测量的精度。

附图说明

图1为本发明的示意图。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步的描述,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,并不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域的普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的其他所用实施例,都属于本发明的保护范围。

本发明提供的超高层建筑物倾斜测量方法包括如下步骤:

A、在地面找出至少三个控制点并形成一坐标系;

B、在楼顶找出至少三个控制点,获得一坐标系下地面和楼顶的多个点的坐标;

C、通过地面控制点测定下测定点的坐标及高程,通过楼顶控制点测定上测定点的坐标及高程,其中下测定点和上测定点在同一外棱角线上;

D、通过计算下测定点和上测定点的水平坐标位移差及高程差的比值即得到建筑物的倾斜值。

作为本发明一种优选的方式,上述步骤A中在地面找出三个控制点(即附图中A、B、C点)型层一坐标系,上述步骤B中在楼顶找出三个控制点(即附图中的D、E、F点),获得地面三个控制点(A、B、C点)和楼顶三个控制点(D、E、F点)在同一坐标系下的坐标。

进一步的,上述步骤A、B和C的具体过程为:在地面及楼顶布设满足规范要求(行业标准)的GPS控制网及拟合高程,在不同观测时间段,分别解算出地面三个控制点(A、B、C点)的坐标及高程和楼顶三个控制点(D、E、F点)的坐标及高程,其中地面和楼顶的各个控制点的高程的解算,本领域的技术人员都能够进行解算,对于解算的过程,在此不再赘述。同时利用地面及楼顶的三个控制点使用全站仪分别测量建筑物同一外棱角线上的上测定点(附图中的C-1)和下测定点(附图中的C-2)的坐标及高程,通过比对不同时期相同位置的坐标数据即可计算出倾斜值。

本发明提供的超高层建筑物倾斜测量方法解决了全站仪上下测定点受到场地(不通视)及仪器本身条件的限制(仰角过大、超出测程等)无法进行高层(超高层)建筑物倾斜值的问题,相比于现有的全站仪测量方法,获得的建筑物的倾斜值更加准确和真实,提高测量的精度。

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