[发明专利]低照度CMOS分辨率测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种微光测试技术，特别是一种低照度CMOS分辨率测试装置。

背景技术

与其他固体微光器件相比，低照度CMOS图像传感器具有成本、功耗及体积优势，是固体微光器件发展的重要方向。低照度CMOS的分辨率是评价低照度CMOS性能的主要参数。

在国内，已经有一些单位开展了低照度CMOS性能参数测试的研究工作，但是还没有建立低照度CMOS性能参数的标准，也没有关于低照度CMOS分辨率测试装置的相关文献。

发明内容

本发明的目的在于提供一种低照度CMOS分辨率测试装置，该装置结构简单、易于操作，可以方便、快捷地测得低照度CMOS的信噪比值。

一种低照度CMOS分辨率测试装置，包括物镜、物镜组件、平行光管、靶标系统组件、大积分球、两个光源、两个光阑调节机构；其中物镜固定于物镜组件后端，平行光管后端固定于物镜组件前端，靶标系统组件设置于平行光管前端和大积分球的输出端，第一光源与大积分球的第一输入端连接，第二光源于小积分球的输入端连接，小积分球输出端通过光阑调节机构与大积分球的第二输入端连接。

采用上述装置，物镜组件包括物镜调节夹具、物镜压圈、物镜连接夹具；其中物镜连接夹具设置通孔，该通孔前端为平行光管通孔且后端为物镜调节夹具通孔，平行光管一端伸入该平行光管通孔并固定，物镜调节夹具设置物镜通孔，物镜穿过该物镜通并通过物镜压圈固定，物镜调节夹具设置于物镜调节夹具通孔内且可在该物镜调节夹具通孔内伸缩。

采用上述装置，所述靶标系统组件包括标靶端盖、靶盘盒、标准靶标；其中标靶端盖固定于平行光管前端和大积分球输出端之间，标靶端盖沿光线入射方向设置通光孔且沿垂直于光线入射方向设置靶盘盒槽，靶盘盒设置于靶盘盒槽内且沿光线入射方向设置通光孔，标准靶标设置于靶盘盒内。

本发明于现有技术相比，具有以下优点：(1)本发明通过靶标显示在视频上获取图像的分辨率；(2)物镜组件中的物镜调节夹具在物镜调节夹具通孔内滑动驱动物镜伸缩，便于调节焦距；(3)靶标系统组件包括标靶端盖、靶盘盒、标准靶标，部件间可拆卸，方便更换靶标。

下面结合说明书附图对本发明做进一步描述。

附图说明

图1为本发明整体结构示意图，其中图1(a)为主视图，图1(b)为俯视图。

图2为本物镜组件结构示意图。

图3为本发明靶标系统组件结构示意图。

图4为本发明的靶盘盒结构示意图，其中图4(a)为靶盘盒盖，图4(b)为靶盘盒体。

具体实施方式

结合图1，一种低照度CMOS分辨率测试装置，包括物镜1、物镜组件2、平行光管3、平行光管下夹具4、平行光管上夹具5、靶标系统组件6、大积分球7、两个卤钨灯8和15、光阑调节机构16、平行光管夹具底板10、支柱9、滑块11、大积分球支座12、小积分球支座13和轨道14。物镜1设置于于物镜组件2后端且可在物镜组件2内滑动，平行光管3后端固定于物镜组件2前端，靶标系统组件6设置于平行光管3前端和大积分球7的输出端，第一光源与大积分球7的第一输入端连接，第二光源于小积分球的输入端连接，小积分球输出端通过光阑调节机构16与大积分球7的第二输入端连接。平行光管下夹具4、平行光管上夹具5加紧平行光管3的前后两端，支柱9两根分别与平行光管下夹具4、平行光管上夹具5固定连接，平行光管夹具底板10用于固定两根支柱9，大积分球支座12、小积分球支座13分别与大积分球7和小积分球连接且用于支撑，支柱9、大积分球支座12通过不同的滑块11设置于轨道14上且可以在轨道4上滑动，轨道14、小积分球支座13设置于工作台上。

卤钨灯8和15用作发光源，光源经过光阑调节机构16控制光通量，大、小积分球可提供均匀的平行光，平行光经过靶标系统组件6再经平行光管照射到低照度CMOS探测面上，低照度CMOS的后端连接计算机进行视频采集和信号处理得到分辨率。