[发明专利]低照度CMOS分辨率测试装置在审

专利信息
申请号: 201710164069.1 申请日: 2017-03-20
公开(公告)号: CN107027022A 公开(公告)日: 2017-08-08
发明(设计)人: 邱亚峰;李杰 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 南京理工大学专利中心32203 代理人: 朱宝庆
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 照度 cmos 分辨率 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种低照度CMOS分辨率测试装置,其特征在于,包括物镜(1)、物镜组件(2)、平行光管(3)、靶标系统组件(6)、大积分球(7)、小积分球、两个光源、两个光阑调节机构(16);其中

物镜(1)设置于于物镜组件(2)后端且可在物镜组件(2)内滑动,

平行光管(3)后端固定于物镜组件(2)前端,

靶标系统组件(6)设置于平行光管(3)前端和大积分球(7)的输出端,

第一光源与大积分球(7)的第一输入端连接,

第二光源于小积分球的输入端连接,

小积分球输出端通过光阑调节机构(16)与大积分球(7)的第二输入端连接。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,物镜组件(2)包括物镜调节夹具(2-1)、物镜压圈(2-2)、物镜连接夹具(2-5);其中

物镜连接夹具(2-5)设置通孔,该通孔前端为平行光管通孔且后端为物镜调节夹具通孔,平行光管(3)一端伸入该平行光管通孔并固定,

物镜调节夹具(2-1)设置物镜通孔,物镜(1)穿过该物镜通并通过物镜压圈(2-2)固定,

物镜调节夹具(2-1)设置于物镜调节夹具通孔内且可在该物镜调节夹具通孔内滑动。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,物镜调节夹具通孔开口处沿周向设置挡圈;物镜调节夹具(2-1)前端固定带通孔的物镜调节夹具压圈(2-4);物镜调节夹具压圈(2-4)和挡圈配合防止物镜调节夹具(2-1)滑出物镜调节夹具通孔。

4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,物镜连接夹具(2-5)侧壁上设置止定螺钉孔,止定螺钉(2-6)穿过止定螺钉孔固定调整好位置的物镜。

5.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,物镜调节夹具压圈(2-4)通过沉头螺钉(2-3)固定于物镜调节夹具(2-1)上,

6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述靶标系统组件(6)包括标靶端盖、靶盘盒、标准靶标(6-5);其中

标靶端盖固定于平行光管(3)前端和大积分球(7)输出端之间,

标靶端盖沿光线入射方向设置通光孔且沿垂直于光线入射方向设置靶盘盒槽,

靶盘盒设置于靶盘盒槽内且沿光线入射方向设置通光孔,

标准靶标(6-5)设置于靶盘盒内。

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