[发明专利]一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法

说明书

本发明公开了一种基于红外紫外成像综合的绝缘子检测方法，采用的红外紫外成像综合检测方法，综合了各种劣化绝缘子检测方法的优点，以红外成像法为基础，却又能够避免单纯的使用红外成像法或者紫外成像法时分别出现的误检漏检，本发明通过采用红外紫外双重监测及相关的量化整定方法会减小误检漏检的可能性，提高了检测效率，同时也增大了检测周期；减小了劣化绝缘子存在的安全隐患，也避免了出现误检漏检时对输电线路巡检构成的潜在隐患。

技术领域

本发明涉及电性能的测试装置，尤其是一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法。

背景技术

目前绝缘子在输电线路中大量的使用，其运行环境为户外输电线路，传统的检测方法必须进行登杆检测，需花费大量的人力及物力，而且其准确率受环境、人工调整火花间隙距离及作业人员的经验等因素影响很大。即使每年进行一次检测，也会有相当数量的缺陷绝缘子仍在线路上运行，成为线路安全运行隐患。此外，近几年来，环境污染加重，使得绝缘子表面很容易覆盖污秽，表面污秽对绝缘子表面电场及发热特性有很大的影响，会大大干扰劣化绝缘子的检测，而且目前常用的检测缺陷瓷悬式绝缘子的方法不是工作量大就是受环境或仪器的影响，不能达到简单、快捷、有效的检测目的。

红外成像法与紫外成像法具有远距离，非接触性、操作方便等传统常规检测方法无法比拟的优点，红外成像仪通过把目标的热辐射信号转换成电信号，经过放大处理后显示为以温度不同分布的热图像，通过红外成像可以直观地检测到设备发热性能。紫外成像仪是通过接受放电产生的紫外光信号，将光信号转换为电信号，同样经放大处理得到紫外图像再与可见光图像融合，得到最终的可定位放电点的设备放电图像，但是二者又具有各自的局限性，红外成像仪对微弱放电或设备的前期缺陷检测不敏感，紫外成像法无法检测对设备的内部缺陷或是干污缺陷绝缘子不放电的情况等。尽管如此，二者在技术上并不冲突，红外成像主要反映设备的发热特性，紫外成像主要反映设备的放电特性。

发明内容

发明目的：针对上述现有技术存在的缺陷，本发明旨在提供一种可对劣化绝缘子进行有效的检测与预警的基于红外紫外成像综合的绝缘子检测方法。

技术方案：一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法，包括如下步骤：

(1)采集检测的红外紫外成像图谱信息；

(2)对红外紫外成像图谱信息进行红外分析和紫外分析，通过红外分析得到绝缘子的温度信息，通过紫外分析得到绝缘子的放电强弱信息；

(3)根据绝缘子的温度信息及放电强弱信息判断绝缘子是否正常；若正常，则结束检测；否则通过近距离实验对故障做出诊断。

进一步的，步骤(3)中所述近距离实验具体为：当图谱分析劣化片数大于1片时进行接触式电压分布测量法检测并对故障做出诊断；当图谱分析劣化片数等于1片时进行近距离电场测量法检测并对故障做出诊断。

进一步的，步骤(2)中所述红外分析为提取绝缘子的轴线温度并通过轴线温度值进行故障诊断；所述提取绝缘子的轴线温度包括依次进行的提取图像的surf特征点、K近邻匹配、自适应空间聚类和分段校正；所述通过轴线温度值进行故障诊断具体包括如下步骤：

(2.1.1)遍历绝缘子串中轴线温度得到温度变化区间[min，max]；

(2.1.2)在温度变化区间中寻找绝缘子的平均温度；

(2.1.3)生成阈值曲线；

(2.1.4)利用绝缘子串平均温度和阈值曲线寻找温度异常位置。

进一步的，步骤(2.1.2)中所述寻找绝缘子的平均温度以0.1°作为寻找步长。

进一步的，步骤(2.1.3)中所述生成阈值曲线具体为绝缘子两端取阈值0.35°，中心取阈值0.25°，并由两端向中心递减形成U型分布。