[发明专利]一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法

权利要求书

1.一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)采集检测的红外紫外成像图谱信息；

(2)对红外紫外成像图谱信息进行红外分析和紫外分析，通过红外分析得到绝缘子的温度信息，通过紫外分析得到绝缘子的放电强弱信息；所述的紫外分析包括依次进行的灰度变换、二值变换、形态学滤波、小光斑面积及位置计算、光斑面积加权叠加计算，且所述的光斑面积加权叠加为线性距离式加权系数法；

所述光斑面积加权叠加计算具体为：选取光斑面积作为基本的量化参数，通过各个小光斑和主光斑区域的位置关系进行加权叠加得到等效面积；所述加权叠加为线性距离式加权系数法，其计算公式为:

其中，S为紫外图谱放电量等效参数，i为小光斑的标号，S_i为小光斑面积，S₀为主光斑面积，X_i为加权系数，X₀＝1；

设小光斑形心到主光斑形心距离的最小值为L_min＝min{L_i}，则X_i为：

其中，D为主光斑的直径，L_i为小光斑形心到主光斑的形心的距离；

(3)根据绝缘子的温度信息及放电强弱信息判断绝缘子是否正常；若正常，则结束检测；否则通过近距离实验对故障做出诊断。

2.根据权利要求1所述的一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法，其特征在于，步骤(3)中所述近距离实验具体为：当图谱分析劣化片数大于1片时进行接触式电压分布测量法检测并对故障做出诊断；当图谱分析劣化片数等于1片时进行近距离电场测量法检测并对故障做出诊断。

3.根据权利要求1所述的一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法，其特征在于，步骤(2)中所述红外分析为提取绝缘子的轴线温度并通过轴线温度值进行故障诊断；所述提取绝缘子的轴线温度包括依次进行的提取图像的surf特征点、K近邻匹配、自适应空间聚类和分段校正；所述通过轴线温度值进行故障诊断具体包括如下步骤：

(2.1.1)遍历绝缘子串中轴线温度得到温度变化区间[min，max]；

(2.1.2)在温度变化区间中寻找绝缘子的平均温度；

(2.1.3)生成阈值曲线；

(2.1.4)利用绝缘子串平均温度和阈值曲线寻找温度异常位置。

4.根据权利要求3所述的一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法，其特征在于，步骤(2.1.2)中所述寻找绝缘子的平均温度以0.1°作为寻找步长。

5.根据权利要求3所述的一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法，其特征在于，步骤(2.1.3)中所述生成阈值曲线具体为绝缘子两端取阈值0.35°，中心取阈值0.25°，并由两端向中心递减形成U型分布。

6.根据权利要求1所述的一种基于红外紫外成像的绝缘子检测方法，其特征在于，所述小光斑面积及位置计算具体包括如下步骤：

(a)对图像的中各个已经有相同的标签值的区域分别进行形心位置提取，记录每一块位置的形心坐标；

(b)通过比较各个区域的面积确定主光斑位置，其余各个区域的光斑位置信息为各个区域形心与主光斑形心的距离；

(c)计算主光斑区域的长轴；

(d)统计各个大小面积的光斑区域的数量。

7.实施如权利要求1所述方法的一种基于红外紫外成像综合的绝缘子检测装置，其特征在于，包括红外紫外检测模块、红外分析模块、紫外分析模块和处理模块；所述红外紫外检测模块将采集到的红外紫外成像图谱信息传输至红外分析模块和紫外分析模块，红外分析模块对其进行红外分析得到绝缘子的温度信息，紫外分析模块对其进行紫外分析得到绝缘子的放电强弱信息，红外分析模块和紫外分析模块将其分析结果传输至处理模块，处理模块根据绝缘子的温度信息及放电强弱信息判断绝缘子是否正常，并在不正常时通过近距离实验对故障做出诊断。