[发明专利]一种测定聚电解质构象转变过程中单分子链电荷状态演变的方法

权利要求书

1.一种测定聚电解质构象转变过程中单分子链电荷状态演变的方法，包括如下步骤：

(1)利用抗衡离子荧光染料探针标记待测定的聚电解质；

(2)测定所述抗衡离子荧光染料探针在不同抗衡离子浓度条件下的荧光涨落光谱；采用光子计数直方图分析方法分析所述抗衡离子荧光染料探针的荧光涨落光谱信息，得到所述抗衡离子荧光染料探针的分子亮度随抗衡离子浓度的变化曲线，作为标准曲线；

(3)测定所述抗衡离子荧光染料探针标记的聚电解质在不同诱导构象变化因素变化条件下的荧光涨落光谱，采用光子计数直方图分析方法分析所述抗衡离子荧光染料探针标记的聚电解质的荧光涨落光谱信息，得到所述抗衡离子荧光染料探针标记的聚电解质构象演变过程中其分子亮度随诱导构象变化因素的变化的曲线，并与所述标准曲线进行比对得到所述抗衡离子荧光染料探针标记的聚电解质溶液中抗衡离子的浓度与所述抗衡离子荧光染料探针标记处的抗衡离子的浓度之间的曲线；分析所述曲线得到表征所述聚电解质链电荷状态的局部电势信息；

(4)采用荧光关联光谱分析方法分析所述抗衡离子荧光染料探针标记的聚电解质的荧光涨落光谱信息，得到所述抗衡离子荧光染料探针标记的聚电解质的扩散系数信息；

(5)将所述局部电势信息和所述扩散系数信息对诱导构象变化的因素作图，即得到所述诱导构象变化的因素诱导的所述聚电解质构象转变过程中的单分子电荷状态演变信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述聚电解质为多电荷软物质体系。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述抗衡离子荧光染料探针为质子响应性的探针或外加盐响应性的探针。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于：所述抗衡离子荧光染料探针的浓度浓度为10^-9M量级。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于：所述抗衡离子荧光染料探针标记的聚电解质的浓度为10^-9M量级。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于：步骤(3)中，采用Boltzmann分析法得到表征所述聚电解质链电荷状态的局部电势信息。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其特征在于：步骤(3)中，所述诱导构象变化因素为pH值、盐、配体或其它外部刺激条件。