[发明专利]一种显示装置的测试方法及一种显示装置

权利要求书

1.一种显示装置的测试方法，包括以下的步骤：

提供所述显示装置，包括：

获取第一基板及第二基板；

将第一基板及第二基板进行配向工艺；

将第一基板或第二基板进行框胶涂布及导电胶涂布；

在第一基板和/或第二基板边缘之间设置支撑层，所述支撑层的厚度与所述第二基板的厚度之和与测试设备加压棒顶部台阶的高度一致，所述支撑层为具有弹性形变性能的材料制成；

在第一基板相对第二基板一侧或第二基板相对第一基板一侧进行液晶涂布；

将第一基板及第二基板进行对组及框胶硬化工艺形成所述显示装置；

采用加电压探针机构对所述显示装置加压，进行电气性能测试;

其中，所述加电压探针机构包括载台以及加压棒，所述加压棒的顶部具有一台阶，所述台阶的较低面与所述载台平行；

在测试过程中，所述加压棒向上移动，所述台阶的较低面与所述载台共同顶压所述第二基板的底面，所述台阶的较高面与所述第一基板上的阵列金属层接触通电。

2.如权利要求1所述的显示装置的测试方法，其特征在于，在第一基板和/或第二基板边缘之间设置支撑层的具体步骤为：

在第一基板和/或第二基板内侧边缘之间设置若干间隔排布的支撑件，所述的支撑件与支撑件之间形成空腔。

3.如权利要求1所述的显示装置的测试方法，其特征在于，所述将第一基板及第二基板进行配向工艺的步骤具体包括：

洗净步骤，将第一基板及第二基板进行洗净，去除基板表面微粒子及有机物；

配向膜涂布步骤，通过印刷方式将配向膜均匀涂布在基板上；

配向膜成型步骤，除去溶剂以及将聚酰亚胺配向层分层后再通过高温帮助单体进行聚合反应；

配向步骤，利用紫外光将聚酰亚胺配向层膜表面形成定向沟槽；

洗净步骤，去除配向后的残屑或其他异物。

4.如权利要求1所述的显示装置的测试方法，其特征在于，所述获取第一基板的方法为：

玻璃清洗，去除异物；

成膜工艺，在干净的玻璃表面，通过溅射沉积形成金属薄膜；

上光阻，在已形成的金属薄膜上面均匀涂覆一层光刻胶；

曝光，紫外线透过掩模板照射基板上的光刻胶，进行曝光；

显影，光刻胶曝光部分被显影液溶解，留下部分图案呈现所需形状；

蚀刻，把基板放入对应腐蚀液或腐蚀气体中，腐蚀掉无光刻胶覆盖的薄膜；

去光阻，去除残余的光刻胶，留下所需形状的金属薄膜，完成一次光刻；

通过化学气相淀积形成绝缘体或半导体薄膜，通过上述步骤，将绝缘体或半导体薄膜加工成所需形状；

薄膜淀积和光刻过程反复进行多次形成所述第一基板。

5.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括：

第一基板，内侧设有带有至少一个薄膜晶体管阵列单元的第一电极层，所述第一电极层上覆盖有第一配向层，所述第一基板内侧边缘上具有外露的与所述薄膜晶体管阵列单元连接的阵列金属层；

第二基板，内侧设有带有至少一个彩色滤光片单元的第二电极层，所述第二电极层上覆盖有第二配向层；

框胶，框位于所述第一配向层和所述第二配向层之间，其中，所述框胶用于以单个所述薄膜晶体管阵列单元和单个彩色滤光片单元为基础形成液晶盒；

液晶层，填充于各个所述液晶盒内；以及

支撑层，所述支撑层嵌置于所述第一基板内侧边缘与第二基板内侧边缘之间；所述支撑层包括若干间隔设置的支撑件，所述支撑件与支撑件之间形成空腔，所述支撑层的厚度与所述第二基板的厚度之和与测试设备加压棒顶部台阶的高度一致，所述支撑层为具有弹性形变性能的材料制成;

加电压探针机构，所述加电压探针机构包括载台以及加压棒，所述加压棒的顶部具有一台阶，所述台阶的较低面与载台平行，在测试过程中，所述加压棒向上移动，所述台阶的较低面与所述载台共同顶压所述第二基板的底面，所述台阶的较高面与所述第一基板上的阵列金属层接触通电。

6.如权利要求5所述的显示装置，其特征在于，若干所述支撑件沿某一方向间隔分布或者沿纵、横方向交叉分布。