[发明专利]一种通过蓝宝石衬底制备多晶SiC薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201710146618.2 申请日: 2017-03-13
公开(公告)号: CN107059119B 公开(公告)日: 2019-12-06
发明(设计)人: 杨颖;姚靖懿;王一平;郑炳金;王建业 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: C30B28/12 分类号: C30B28/12;C30B29/36;C30B33/02;C23C14/35;C23C14/58;C23C14/06
代理公司: 32237 江苏圣典律师事务所 代理人: 贺翔<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 通过 蓝宝石 衬底 制备 多晶 sic 薄膜 方法
【说明书】:

发明实施例公开了一种通过蓝宝石衬底制备多晶SiC薄膜的方法,涉及半导体薄膜材料技术领域,本发明包括:将清洗好的蓝宝石衬底(1)与SiC靶材置于真空反应腔体中,并将所述真空反应腔体抽至高真空状态,并对蓝宝石衬底(1)进行升温;往所述真空反应腔体中通入氩气和氧气,并维持气压;执行磁控溅射过程,得到过渡层(2)和过渡层(3),其中,所述溅射过程包括先预溅射和正式溅射;关闭氧通道,只通入氩气并维持气压,再次执行磁控溅射过程得到SiC薄膜(4),待所述真空反应腔体腔体冷却至室温后取出样品;将所取出的样品置于快速退火炉中进行热退火。本发明适用于在蓝宝石衬底上制备多晶SiC薄膜。

技术领域

本发明涉及半导体薄膜材料技术领域,尤其涉及一种通过蓝宝石衬底制备多晶SiC薄膜的方法。

背景技术

Si是第一代窄禁带半导体材料的代表,在所有半导体材料中其使用量占据绝对优势,几乎所有的功率及电力电子器件都使用Si材料来制造,但Si材料并不是完全理想的。例如:Si材料所制成的温度传感器,其有效测温区间仅为0~150℃,无法适应部分高温环境下的测量。因此,近年来也逐步开始研究第三代宽禁带半导体材料,即SiC材料。SiC材料具有优越的电学性能,特别适合制成高压、高温、耐辐照、高功率型半导体器件。

蓝宝石(Sapphire)是在刚玉宝石中,对除了红宝石(Ruby)以外颜色的其他刚玉宝石的通称,是一种非常优良的绝缘材料,具有硬度大,熔点很高,致密性非常好,抗辐射性非常好,并且化学稳定性很高等诸多特点。在人工制造的蓝宝石上制作一系列半导体器件,产生的寄生电极和漏电容都会非常小,而且蓝宝石衬底(1)是绝缘的,还不需要进一步额外的隔离工艺,从而实现了半导体器件的高度集成。

但是从基本参数上来看,蓝宝石衬底(1)和SiC薄膜的晶格失配很大,高达9%-15%,并且SiC在蓝宝石衬底(1)上的附着性很差,难以成核生长。因此,如何在蓝宝石衬底(1)上稳定地生长出具有一定取向的晶态SiC薄膜,是目前业内主要的研究方向。

发明内容

本发明的实施例提供一种通过蓝宝石衬底制备多晶SiC薄膜的方法,能够实现在蓝宝石衬底上制备多晶SiC薄膜。

将清洗好的蓝宝石衬底(1)与SiC靶材置于真空反应腔体中,并将所述真空反应腔体抽至高真空状态,并对蓝宝石衬底(1)进行升温;

往所述真空反应腔体中通入氩气和氧气,并维持气压;

执行磁控溅射过程,得到过渡层(2)和过渡层(3),其中,所述溅射过程包括先预溅射和正式溅射;

关闭氧通道,只通入氩气并维持气压,再次执行磁控溅射过程得到SiC薄膜(4),待所述真空反应腔体腔体冷却至室温后取出样品;

将所取出的样品置于快速退火炉中进行热退火。

本发明实施例提供的通过蓝宝石衬底制备多晶SiC薄膜的方法,通过加入Si-O-C中间过渡层后,薄膜材料形成初期成核更加容易,SiC薄膜沉积速率会有所提高,经快速热退火后,薄膜与衬底的晶格畸变程度有所减缓,且加入Si-O-C中间过渡层后,薄膜与蓝宝石衬底的结合力变强。同时并未影响薄膜的电阻随温度变化的稳定性,具有工作温度高,热稳定性好,工作可靠性高,所制备出的材料的应用范围广泛。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例提供的在蓝宝石衬底上制备多晶SiC薄膜的结构示意图;

图2为本发明实施例提供的在蓝宝石衬底上制备多晶SiC薄膜的方法流程图;

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