[发明专利]一种微镜扫描探测装置及探测方法在审

专利信息
申请号: 201710143898.1 申请日: 2017-03-13
公开(公告)号: CN108572369A 公开(公告)日: 2018-09-25
发明(设计)人: 郑凯;疏达;李远 申请(专利权)人: 北醒(北京)光子科技有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/481
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100085 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 微镜 扫描探测装置 光发射模块 接收模块 探测光 障碍物 面阵光电传感器 探测 红外探测 反射 转动 数据处理模块 飞行时间法 范围覆盖 光束集中 扫描探测 探测装置 外部环境 分置 光强 视场 申请 收发
【权利要求书】:

1.一种扫描探测方法,其特征在于,

光发射模块发出红外探测光,所述红外探测光照射到微镜上;

所述微镜在工作过程中不断转动,将红外探测光以不同的角度反射到外部环境中;

被微镜反射的红外探测光遇到障碍物后,被障碍物反射;

接收模块接收由被障碍物反射的红外探测光,将光信号转换为电信号;

数据处理模块依据接收模块接转换的电信号,通过飞行时间法计算扫描探测装置与障碍物之间的距离;

其中,所述接收模块中具有面阵光电传感器;所述接收模块与光发射模块采取收发分置的结构。

2.根据权利要求1所述的扫描探测方法,其特征在于,所述面阵光电传感器为由M行N列个独立光电传感器单元所组成的一块面阵光电传感器,其中,M大于等于1,N大于等于1,但M和N非同时等于1。

3.根据权利要求1所述的扫描探测方法,其特征在于,所述微镜为单轴转动微镜,或者为X-Y两个轴的双轴转动微镜,被微镜反射的红外探测光所覆盖的视场范围大于或者等于接收模块的接收视场范围。

4.根据权利要求1所述的扫描探测方法,其特征在于,在微镜工作过程中每两个相邻的不同转动角度状态中,被微镜反射的红外探测光在探测视场范围具有重叠的部分,或者不具有重叠的部分。

5.根据权利要求1所述的扫描探测方法,其特征在于,通过面阵光电传感器的其中每个光电传感器单元在面阵光电传感器中所处的位置,来确定探测区域中障碍的方位角度。

6.根据权利要求1-5之一所述的扫描探测方法,其特征在于,光发射模块发出线光源,所述微镜单轴转动,所述微镜在与线光源正交的方向上转动。

7.根据权利要求1-5之一所述的扫描探测方法,其特征在于,在接收模块接收到被障碍物反射的红外探测光,将光信号转换为电信号后,在数据处理模块基于所述电信号进行距离计算的过程中,同时控制微镜转动到下一个探测角度。

8.根据权利要求1-5之一所述的扫描探测方法,其特征在于,当所述接收模块中光电传感单元接收到的被障碍物反射的红外探测光的光强数值低于置信值时,放弃依据该光电传感器单元所得到的距离值;当所述接收模块中光电传感单元接收到的被障碍物反射的红外探测光的光强数值高于置信值时,保留依据该光电传感器单元所得到的距离值。

9.根据权利要求8所述的扫描探测方法,其特征在于,同一光电传感器单元,在微镜处于不同的角度状态时,对重复得到的保留的距离值进行平均。

10.根据权利要求1-5之一所述的扫描探测方法,其特征在于,接收模块还得到被障碍物反射回的探测光的灰度数据。

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