[发明专利]硫蒸气腐蚀箱和硫蒸气腐蚀测试方法

权利要求书

1.一种硫蒸气腐蚀箱，包括：

测试箱体部分，包含一隔板，在所述隔板上设置有空隙并用于放置被测样品；

硫蒸气产生部分，其置于所述隔板下方并通过所述隔板与所述测试箱体部分分离，用于产生硫蒸气，所述硫蒸气经由所述隔板上的空隙进入所述测试箱体部分；以及

参数控制部分，用于单独地控制所产生的硫蒸气在所述测试箱体部分内的参数，

其中所述硫蒸气产生部分包括：

硫粉区域，在所述硫粉区域上放置有硫粉；和

第一加热部分，用于对所述硫粉区域上放置的硫粉进行加热以便所述硫粉改变为硫蒸气，

其中所述硫蒸气腐蚀箱进一步包括：

第二加热部分，设置于所述测试箱体内，用于改变被测样品所处的环境温度。

2.根据权利要求1所述的硫蒸气腐蚀箱，其中所述参数为所述硫蒸气在所述测试箱体部分内的浓度，并且

其中所述参数控制部分包括：

温度控制部分，用于控制所述第一加热部分对所述硫粉区域进行加热的温度，

其中当所述温度控制部分控制的加热温度越高时，所产生的硫蒸气越多。

3.根据权利要求1所述的硫蒸气腐蚀箱，其中所述参数为所述硫蒸气在所述测试箱体内的流速，并且

其中所述参数控制部分包括：

流速控制部分，用于以预定流速将特定气体排出到所述测试箱体，以改变所述硫蒸气的流速。

4.根据权利要求3所述的硫蒸气腐蚀箱，进一步包括：

第1至第n测试箱，放置于所述隔板上，其彼此分离且保持密闭，用以容纳第1至第n被测样品，其中n为大于1的自然数；

其中所述流速控制部分进一步包括第1至第n子控制单元，分别连接至所述第1至第n测试箱，用于单独地控制所述第1至第n测试箱内的气体流速。

5.一种硫蒸气腐蚀测试方法，用于一硫蒸气腐蚀箱，所述硫蒸气腐蚀箱包括：测试箱体部分，包含一隔板，在所述隔板上设置有空隙并用于放置被测样品，所述方法包括：

在所述隔板上放置被测样品；

产生硫蒸气，所述硫蒸气经由所述隔板上的空隙进入所述测试箱体部分；以及

单独地控制所产生的硫蒸气在所述测试箱体部分内的参数，

其中产生硫蒸气的步骤进一步包括：

对硫粉区域上放置的硫粉进行加热以便所述硫粉改变为硫蒸气，

其中在所述隔板上放置被测样品的步骤之后，所述硫蒸气腐蚀测试方法进一步包括：

改变被测样品所处的环境温度。

6.根据权利要求5所述的硫蒸气腐蚀测试方法，其中所述参数为所述硫蒸气在所述测试箱体部分内的浓度，并且

其中单独地控制所产生的硫蒸气在所述测试箱体部分内的参数的步骤包括：

控制对所述硫粉区域进行加热的温度，

其中当控制的加热温度越高时，所产生的硫蒸气越多。

7.根据权利要求5所述的硫蒸气腐蚀测试方法，其中所述参数为所述硫蒸气在所述测试箱体内的流速，并且

其中单独地控制所产生的硫蒸气在所述测试箱体部分内的参数的步骤包括：

以预定流速将特定气体排出到所述测试箱体，以改变所述硫蒸气的流速。

8.根据权利要求7所述的硫蒸气腐蚀测试方法，其中所述测试箱体进一步包括：第1至第n测试箱，放置于所述隔板上，其彼此分离且保持密闭，用以容纳第1至第n被测样品，其中n为大于1的自然数，所述方法进一步包括：

单独地控制所述第1至第n测试箱内的气体流速。