[发明专利]一种基于扫描链的芯片分析方法

说明书

本发明公开了一种基于扫描链的芯片分析方法，其特征在于将CPU中需要保存状态的普通寄存器替换为带扫描输入寄存器，当CPU出现异常时，通过JTAG输出串行扫描触发指令，启动扫描链数据保存操作，将带扫描输入寄存器的数据串行通过JTAG口输出给调试主机，调试者分析调试主机接收到的各个带扫描输入寄存器的数据，分析完成后，通过控制JTAG输出控制复位信号对CPU进行复位操作，控制CPU恢复正常工作。通过扫描链机制的方法可实现在CPU出现异常时刻快速方便读出芯片主要寄存器的状态，并配合JTAG的工具实现对出现异常的CPU进行快速分析和问题定位，可大大提升开发效率。

技术领域

本发明涉及信息电子芯片设计领域，尤其涉及一种基于扫描链的芯片分析方法。

背景技术

在嵌入式产品研发过程中，软件设计和调试是研发中的一个重要环节。任何软件在定版前都需要经过多次的调试，为了提升设计效率，很多芯片设计公司都同步设计了软件的调试工具。各类调试工具的基本上都是类似与通过JTAG(是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试)端口进行与CPU直接进行通信和控制，控制程序的执行。例如单步调试，这类调试的一个前提是CPU本身是工作正常的，如果CPU本身出现问题或异常则各类软件或CPU的状态也就丢失了，则无法定位问题所在。出现这种情况时就需准确的获取当前CPU的状态，才可进一步的分析软件或CPU出现异常或错误的原因。现有的JTAG工具针对现有的芯片设计都无法很好的实现该需求。

发明内容

针对以上缺陷，本发明目的在于如何在CPU出现异常时还可快速定位芯片内部问题，节约调试时间，排除制造及时序问题。

为了实现上述目的，本发明提供了一种基于扫描链的芯片分析方法，其特征在于将CPU中需要保存状态的普通寄存器替换为带扫描输入寄存器，当CPU出现异常时，通过JTAG输出串行扫描触发指令，启动扫描链数据保存操作，将带扫描输入寄存器的数据串行通过JTAG口输出给调试主机，调试者分析调试主机接收到的各个带扫描输入寄存器的数据，分析完成后，通过控制JTAG输出控制复位信号对CPU进行复位操作，控制CPU恢复正常工作。

所述的基于扫描链的芯片分析方法，其特征在于所述的带扫描输入寄存器在普通寄存器的数据输入端口前增设了数据选择器，所述数据选择器包括数据输入端口、扫描输入端口和扫描使能控制端口；带扫描输入寄存器还包括时钟输入端口和扫描输出端口。

所述的基于扫描链的芯片分析方法，其特征在于所述带扫描输入寄存器进行串行连接，前一个带扫描输入寄存器的扫描输出端口与后一个带扫描输入寄存器的扫描输入端口相连，所有带扫描输入寄存器的时钟输入端口连接在一起；所有带扫描输入寄存器的扫描使能控制端口连接在一起。

本发明通过扫描链机制的方法可实现在CPU出现异常时刻快速方便读出芯片主要寄存器的状态，并配合JTAG的工具实现对出现异常的CPU进行快速分析和问题定位，可大大提升开发效率。

附图说明

图1是带扫描输入寄存器示意图；

图2是CPU中扫描链连接示意图；

图3是基于扫描链的芯片分析状态转换图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是带扫描输入寄存器示意图；带扫描输入寄存器在普通寄存器FF的数据输入端口前增设了数据选择器MUX，数据选择器MUX包括数据输入端口Data、扫描输入端口ScanIn和扫描使能控制端口Scan Enable；带扫描输入寄存器还包括时钟输入端口Clk、数据输出端口Q和扫描输出端口Scan Out。