[发明专利]内置信号校准电路的双速率DML器件、模块及信号校准方法有效
申请号: | 201710131223.5 | 申请日: | 2017-03-07 |
公开(公告)号: | CN106998230B | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 徐红春;岳阳阳;刘成刚;宋小平;梅雪;邹晖;张玉安 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/50 | 分类号: | H04B10/50 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 刘黎明 |
地址: | 430205 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 内置 信号 校准 电路 速率 dml 器件 模块 方法 | ||
1.一种内置信号校准电路的双速率DML器件,其特征在于,包括:
信号校准电路组件(4),内置于所述DML器件中,用于校准劣化信号,
并且通过金线直连激光器芯片(6);
准直透镜(7),用于将激光器芯片(6)的光源转换为平行光;
分光结构(12),用于将部分平行光反射并汇聚至PD光敏面上;
PD阵列(11),包括多个所述PD光敏面,并且各个PD光敏面分别与串口控制结构(17)的数据输入端口(18)相连,所述串口控制结构(17)和用于驱动激光器芯片(6)的信号校准组件(4)相连。
2.根据权利要求1所述的一种内置信号校准电路的双速率DML器件,其特征在于,所述分光结构(12)产生透射与反射的面位于其对脚线所形成的斜面上,所述PD阵列(11)位于所述斜面上方。
3.根据权利要求1所述的一种内置信号校准电路的双速率DML器件,其特征在于,所述信号校准组件(4)与芯片(6)之间的金线键合长度为0.1mm至2mm,弯曲角度为45°至135°。
4.根据权利要求1所述的一种内置信号校准电路的双速率DML器件,其特征在于,所述分光结构(12)还用于将部分平行光透射并汇聚至光纤中。
5.根据权利要求1所述的一种内置信号校准电路的双速率DML器件,其特征在于,还包括与独立温控元件TEC相连的热沉(9),所述激光器芯片(6)、准直透镜(7)、PD阵列(11)依次布置于所述热沉(9)上,并且所述准直透镜(7)与热沉(9)之间设置玻璃垫片(8)。
6.一种内置信号校准电路的双速率DML模块,其特征在于,包括上述任一权利要求所述的DML器件。
7.一种内置信号校准电路的双速率DML器件信号校准方法,其特征在于,包括:
分光处理步骤,将激光器芯片(6)的光源转换为平行光,并利用分光结构(12)将部分平行光反射并汇聚至其PD光敏面分别与串口控制结构(17)数据输入端口(18)相连的PD阵列(11)中;
反馈控制步骤,利用串口控制结构(17)从所述PD阵列(11)中导出信号并输送到内置于DML器件中的通过金线与激光器芯片(6)直接连接的信号校准电路组件(4)以调整光强度。
8.根据权利要求7所述的一种内置信号校准电路的双速率DML器件信号校准方法,其特征在于,所述反馈控制步骤中,利用加载于串口控制结构(17)上的时钟端口(15)上的时钟信号和电源端口(16)上的电压将PD阵列(11)的信号全部输出。
9.根据权利要求7所述的一种内置信号校准电路的双速率DML器件信号校准方法,其特征在于,所述反馈控制步骤中,分时序读取PD阵列(11)的信号。
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