[发明专利]一种方便零点校准的螺旋测微器在审

专利信息
申请号: 201710123116.8 申请日: 2017-03-03
公开(公告)号: CN106918273A 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 陈健;江正仙;朱纯;周锡生 申请(专利权)人: 江南大学
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214122 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 方便 零点 校准 螺旋 测微器
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种长度测量工具,具体为一种方便零点校准的螺旋测微器。

背景技术

螺旋测微器是一种较为精密的长度测量仪器。校准好的螺旋测微器,当测微螺杆与测砧接触时,微分套筒与固定套筒上的零刻度线应该是对齐的。如果没有对齐,测量时就会产生系统误差。此时需要用专用工具对螺旋测微器进行零点校准,或者记下螺旋测微器的零点读数,然后将每次测量的读数减去零点读数才是实际的测量结果,由此给使用者带来不便。

发明内容

本发明的目的,是克服现有螺旋测微器的上述缺点,开发一种方便零点校准的螺旋测微器。

为了解决上述技术问题,本发明通过以下技术方案实现:包括弓形尺架、固定套筒、微分筒、棘轮测力装置、测微螺杆;还包括螺旋测砧,所述螺旋测砧为圆柱形螺纹螺钉;所述弓形尺架上正对测微螺杆的一端沿测微螺杆轴线方向设有通孔,所述通孔的孔径等于螺旋测砧的外径,通孔内表面设有与螺旋测砧螺纹相配合的内螺纹,螺旋测砧与通孔通过螺纹旋转连接,螺旋测砧的长度大于通孔的长度。

所述螺旋测砧的螺距为0.5mm,与测微螺杆的螺距相同,以确保调整精度。

本发明在测量前,先旋转微分筒使测微螺杆与螺旋测砧相接触,此时如果微分套筒与固定套筒上的零刻度线没有对齐,可松开螺旋测砧,微调微分筒使零刻度线对齐,再慢慢旋转螺旋测砧使测微螺杆与螺旋测砧刚好接触,由此完成螺旋测微器的零点校准。本发明结构简单,可用于现有螺旋测微器的改进,方便使用者操作,有利于螺旋测微器的快速零点校准,提高测量效率和准确性。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步说明。

图1为本发明的构成示意图。

图中:1.弓形尺架,2.固定套筒,3.微分筒,4.棘轮测力装置,5.测微螺杆,6.螺旋测砧,7.通孔,8.止动旋钮,9.弹簧垫片。

具体实施方式

如图1所示,本发明包括弓形尺架1、固定套筒2、微分筒3、棘轮测力装置4、测微螺杆5,还包括螺旋测砧6,螺旋测砧6为圆柱形螺纹螺钉。弓形尺架1上正对测微螺杆5的一端沿测微螺杆5轴线方向设有通孔7,通孔7的孔径等于螺旋测砧6的外径,通孔7内表面设有与螺旋测砧6的螺纹相配合的内螺纹,螺旋测砧6与通孔7通过螺纹旋转连接,螺旋测砧6的长度大于通孔7的长度,螺旋测砧6头部套设有起压紧作用的弹簧垫片9。

螺旋测砧6的螺距与测微螺杆5的螺距相同,均为0.5mm。

弓形尺架1上端垂直通孔7设有止动旋钮8,用于零点校准后进一步固定螺旋测砧6,防止其松动。

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