[发明专利]质量分析方法及感应耦合等离子体质量分析装置

权利要求书

1.一种质量分析方法，其是使用感应耦合等离子体质量分析装置，针对多个测定对象试样的各者，测定事先决定的1个至多个目标元素的方法，所述感应耦合等离子体质量分析装置具备通过感应耦合等离子体来对所述测定对象试样进行等离子体离子化的等离子体离子化部、及对所述等离子体离子化部中所生成的离子进行质量分离并加以检测的质量分析部，所述质量分析方法的特征在于：

在所述等离子体离子化部中对作为所述多个测定对象试样中的1个的代表试样进行等离子体离子化，并在所述质量分析部中进行扫描测定来取得质谱，

根据所述代表试样的质谱的质量峰的位置，推断所述代表试样中所含有的元素的种类，

针对所述经推断的元素中的所述目标元素的各者，根据离子信息来判定有无干涉离子并不存在的同位素，其中所述离子信息是关于包含所述目标元素的设想包含于所述测定对象试样中的所有元素的同位素离子的质量电荷比及存在比、以及设想在所述测定对象试样的等离子体离子化时生成的化合物离子及多价离子的质量电荷比及生成概率的信息，所述干涉离子为具有与所述目标元素的一价的离子相同的质量电荷比的其他离子，

当有所述干涉离子并不存在的同位素时，从其中将质量峰的强度最大的同位素的质量电荷比决定为测定质量电荷比，其中所述测定质量电荷比为用于所述目标元素的测定的质量电荷比，当在所有同位素中存在干涉离子时，基于所述离子信息，根据干涉元素的一价的离子的检测强度来求出所述干涉离子的质量峰的强度，并将实测的质量峰的强度减去所述干涉离子的质量峰的强度所得的质量峰的强度最大的同位素的质量电荷比决定为测定质量电荷比，其中所述干涉元素为对应于所述干涉离子的元素，所述测定质量电荷比为用于测定的质量电荷比，

将所述多个测定对象试样依次导入至所述等离子体离子化部中，并对各试样执行使用所述测定质量电荷比的选择离子监测测定。

2.根据权利要求1所述的质量分析方法，其特征在于：关于所述目标元素的测定质量电荷比，当存在干涉离子时，对于对应于所述干涉离子的干涉元素的一价的离子的质量电荷比也进行选择离子监测测定，且

基于所述离子信息，根据所述干涉元素的一价的离子的检测强度来推断所述干涉离子的检测强度，并求出修正强度，其中所述修正强度为从目标元素的质量电荷比的离子的质量峰的强度减去所述干涉离子的质量峰的强度所得的强度。

3.根据权利要求1所述的质量分析方法，其特征在于：对所述代表试样以外的测定对象试样也进行扫描测定来取得质谱，

根据对各测定对象试样所取得的质谱与所述离子信息，针对所述目标元素的各者，判定在决定所述测定质量电荷比时未设想的干涉离子是否存在，

当关于所述目标元素中的至少一个存在所述未设想的干涉离子时，针对所述测定对象试样，将催促再测定的信息提示给分析者。

4.根据权利要求3所述的质量分析方法，其特征在于：当针对某一目标元素，判定存在在决定所述测定质量电荷比时未设想的干涉离子时，根据所述测定对象试样的质谱与所述离子信息，决定作为用于所述目标元素的测定的新的质量电荷比的变更质量电荷比并提示给分析者。

5.根据权利要求4所述的质量分析方法，其特征在于：提示所述变更质量电荷比，并且根据所述测定对象试样的质谱中的所述变更质量电荷比的质量峰的强度对所述目标元素进行定量，且将其定量值作为临时定量值来提示。