[发明专利]一种测定超微滤膜孔径及孔径分布的方法

权利要求书

1.一种测定超微滤膜孔径的方法，其特征在于包括以下内容：

1)选取符合设定条件的聚苯乙烯纳米颗粒作为基准物，其中，将聚苯乙烯纳米颗粒采用动态光散射仪表征粒径分布和平均粒径，将粒径分布曲线为单峰且粒径分布较集中的聚苯乙烯纳米颗粒作为基准物；

2)采用紫外分光光度计扫描每种粒径纳米颗粒在紫外可见波长范围内的最大吸收波长，并在最大吸收波长下相应作该粒径纳米颗粒的标准曲线；

3)选取单一粒径聚苯乙烯纳米颗粒配成质量浓度为C₀的溶液，用超声使该粒径纳米颗粒均匀分散在水中，采用悬浮液过滤法对超微滤膜进行过滤实验，选取过滤后的溶液，测得该粒径聚苯乙烯纳米颗粒在最大吸收波长下的吸光度，并采用该粒径聚苯乙烯纳米颗粒所对应的标准曲线计算出过滤后溶液中该粒径纳米颗粒的浓度C_t，进而计算超微滤膜对该粒径聚苯乙烯纳米颗粒的截留率R：

4)选用不同粒径的聚苯乙烯纳米颗粒重复步骤3)进行截留，根据测得的截留率计算该超微滤膜的膜孔直径。

2.如权利要求1所述的一种测定超微滤膜孔径的方法，其特征在于，紫外可见波长范围为200～900nm。

3.如权利要求1到2任一项所述的一种测定超微滤膜孔径的方法，其特征在于，超微滤膜的膜孔直径包括标称孔径d₉₀和几何平均孔径d₅₀，其中，超微滤膜的标称孔径d₉₀是截留率为90％对应的聚苯乙烯纳米颗粒粒径，超微滤膜的几何平均孔径d₅₀是截留率为50％对应的聚苯乙烯纳米颗粒粒径。

4.一种测定超微滤膜孔径分布的方法，其特征在于包括以下内容：基于如权利要求 1～3任一项所述的测定超微滤膜孔径的方法，还包括膜孔径分布计算的步骤：

膜孔径分布常用两个参数的log正态分布方程表示：

其中，d为膜孔直径，u为几何平均孔径，σ为几何标准差，由f(d)和超微滤膜的膜孔直径d绘制超微滤膜孔径分布图。

5.如权利要求4所述的一种测定超微滤膜孔径分布的方法，其特征在于，膜孔径分布公式为：

式中，d₉₀是超微滤膜的标称孔径，d₅₀是超微滤膜的几何平均孔径，即为u，σ＝d₉₀/d₅₀，由f(d)和超微滤膜孔径d绘制超微滤膜孔径分布图。