[发明专利]一种漏电流检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明实施例涉及电气检测技术，尤其涉及一种漏电流检测方法及装置。

背景技术

目前，许多设备需要进行漏电流检测，例如时钟锁等。

时钟锁保持时钟功能的装置中涉及mA级电池，为了减少时钟锁漏电流过大，需定期对时钟锁进行漏电流检测。目前的漏电流检测一般是通过uA级漏电流测试仪和uA级万用表对每个时钟锁进行逐一检测。上述漏电流检测方法的测试设备成本高，耗费时间长，效率低。

发明内容

本发明提供一种漏电流检测方法及装置，以实现快速进行漏电流检测，提高了检测效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种漏电流检测方法，该方法包括：

对至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大，得到和所述至少两个待检测设备各自对应的第一电流；

将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；

通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流；

将所述采样电流与预设电流值进行比对，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果。

进一步的，所述将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容包括：

当主控制器MCU处于休眠状态时，将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；

相应的，所述通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：

当所述主控制器MCU处于唤醒状态时，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流。

进一步的，所述通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：

获取MCU存储单元的偏置电压值，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值和所述偏置电压值的差值作为采样电压，将所述采样电压与采样电阻的比值确定为采样电流，所述偏置电压值由对所述至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大时的偏置电流、偏置电阻和增益参数确定。

进一步的，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：

获取MCU的参考源通道数值，将参考源恒定电压与所述参考源通道数值的比值作为所述MCU的供电电压；

获取采样通道的模数转换器ADC的转换值，将所述MCU的供电电压与所述模数转换器ADC的转换值的积确定为采样电压；

将所述采样电压与采样电阻的比值确定为采样电流。

进一步的，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的检测结果包括：

依据比对情况，通过LED灯显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果，其中，若所述采样电流大于预设电流值，则第一LED灯点亮，若所述采样电流小于或等于所述预设电流值，则第二LED灯点亮。

第二方面，本发明实施例还提供了一种漏电流检测装置，该装置包括：

差分放大器，用于对至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大，得到和所述至少两个待检测设备各自对应的第一电流；

储能电容，用于存储所述第一电流转换的电压信号；

模数转换器ADC，用于采集所述储能电容的电压值；

主控制器MCU，用于将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流，将所述采样电流与预设电流值进行比对，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果。

进一步的，所述装置还包括：

计数器，用于确定主控制器MCU的休眠时间；

所述储能电容具体用于：

当主控制器MCU处于休眠状态时，将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；

相应的，所述模数转换器ADC具体用于：

当所述主控制器MCU处于唤醒状态时，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流。

进一步的，所述主控制器MCU包括：

存储单元，用于存储所述MCU的偏置电压值；

相应的，所述主控制器MCU具体用于：