[发明专利]一种漏电流检测方法及装置

权利要求书

1.一种漏电流检测方法，其特征在于，包括：

对至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大，得到和所述至少两个待检测设备各自对应的第一电流；

将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；

通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流；

将所述采样电流与预设电流值进行比对，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容包括：

当主控制器MCU处于休眠状态时，将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；

相应的，所述通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：

当所述主控制器MCU处于唤醒状态时，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：

获取MCU存储单元的偏置电压值，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值和所述偏置电压值的差值作为采样电压，将所述采样电压与采样电阻的比值确定为采样电流，所述偏置电压值由对所述至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大时的偏置电流、偏置电阻和增益参数确定。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流包括：

获取MCU的参考源通道数值，将参考源恒定电压与所述参考源通道数值的比值作为所述MCU的供电电压；

获取采样通道的ADC的转换值，将所述MCU的供电电压与所述ADC的转换值的积确定为采样电压；

将所述采样电压与采样电阻的比值确定为采样电流。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的检测结果包括：

依据比对情况，通过LED灯显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果，其中，若所述采样电流大于预设电流值，则第一LED灯点亮，若所述采样电流小于或等于所述预设电流值，则第二LED灯点亮。

6.一种漏电流检测装置，其特征在于，包括：

差分放大器，用于对至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大，得到和所述至少两个待检测设备各自对应的第一电流；

储能电容，用于存储所述第一电流转换的电压信号；

模数转换器ADC，用于采集所述储能电容的电压值；

主控制器MCU，用于将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流，将所述采样电流与预设电流值进行比对，依据比对情况分别显示和所述至少两个待检测设备相对应的漏电流检测结果。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述装置还包括：

计数器，用于确定主控制器MCU的休眠时间；

所述储能电容具体用于：

当主控制器MCU处于休眠状态时，将所述第一电流转换为电压信号，并将所述电压信号存储至储能电容；

相应的，所述模数转换器ADC具体用于：

当所述主控制器MCU处于唤醒状态时，通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值与采样电阻的比值确定为采样电流。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述主控制器MCU包括：

存储单元，用于存储所述MCU的偏置电压值；

相应的，所述主控制器MCU具体用于：

通过模数转换器ADC采集所述储能电容的电压值，将所述电压值和所述偏置电压值的差值作为采样电压，将所述采样电压与采样电阻的比值确定为采样电流，所述偏置电压值由对所述至少两个待检测设备的漏电流分别进行差分放大时的偏置电流、偏置电阻和增益参数确定。