[发明专利]用于探头或附件的动态输出钳位

权利要求书

1.一种供电测试和测量仪器使用的探头，包括：

输入端，所述输入端被配置为从被测试器件（DUT）接收输入信号；

钳位控制单元，所述钳位控制单元被配置为向所述输入信号施加至少一个钳位/限制电平，以产生输出信号，其中由所述测试和测量仪器基于对测试和测量仪器的测量设置的一个或多个改变来动态确定所述至少一个钳位/限制电平；以及

输出端口，所述输出端口被配置为将钳位/限制的输出信号提供至所述测试和测量仪器，

其中所述测量设置包括灵敏度或偏移。

2.根据权利要求1所述的探头，其中，所述至少一个钳位/限制电平包括正钳位/限制电平。

3.根据权利要求2所述的探头，还包括以正钳位电平实施的二极管。

4.根据权利要求1所述的探头，其中，所述至少一个钳位/限制电平包括负钳位/限制电平。

5.根据权利要求4所述的探头，还包括以负钳位电平实施的二极管。

6.根据权利要求1所述的探头，其中，所述至少一个钳位电平包括正钳位/限制电平和负钳位/限制电平。

7.根据权利要求6所述的探头，还包括以正钳位电平实施的第一二极管和以负钳位电平实施的第二二极管。

8.一种电测试和测量系统，包括：

被测试器件（DUT）；

示波器；以及

探头，所述探头包括：

输入端，所述输入端被配置为从所述DUT接收输入信号；

钳位控制单元，所述钳位控制单元被配置为向所述输入信号施加至少一个钳位/限制电平，以产生输出信号，其中由所述示波器基于对所述示波器的测量设置的一个或多个改变来动态确定所述至少一个钳位/限制电平；以及

输出端口，所述输出端口被配置为将钳位/限制的输出信号提供至示波器，

其中所述测量设置包括灵敏度或偏移。

9.根据权利要求8所述的系统，还包括被配置为实施正钳位电平的第一二极管和被配置为实施负钳位电平的第二二极管。

10.一种用于电测试和测量仪器的方法，所述方法包括：

从被测试器件（DUT）接收输入信号；

检测对测试和测量仪器的测量设置的改变；

由所述测试和测量仪器基于对所述测量设置的改变来动态确定至少一个钳位/限制电平；

向所述输入信号施加所确定的钳位/限制电平，以产生输出信号；以及

将钳位/限制的输出信号提供至所述测试和测量仪器，

其中所述测量设置包括灵敏度或偏移。

11.根据权利要求10所述的方法，

其中，所述动态确定包括：

基于对所述测量设置的改变来动态确定正钳位/限制电平；

基于对所述测量设置的改变来动态确定负钳位/限制电平；

并且其中所述施加包括：

向所述输入信号施加所述正钳位/限制电平；以及

向所述输入信号施加所述负钳位/限制电平。

12.一种用于示波器的方法，所述方法包括：

从被测试器件（DUT）接收输入信号；

检测对示波器的测量设置的改变；

由所述示波器基于对所述测量设置的改变来动态确定钳位/限制电平；以及

在示波器的输入端处施加至少一个钳位/限制电平，以防止过驱动/饱和状态在示波器的前端发生，

其中所述测量设置包括灵敏度或偏移。