[发明专利]具有高兼容性的X射线传感器面板、X射线探测器有效
申请号: | 201710102257.1 | 申请日: | 2017-02-24 |
公开(公告)号: | CN108507599B | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 朱翀煜;金利波 | 申请(专利权)人: | 奕瑞影像科技(太仓)有限公司 |
主分类号: | G01D5/50 | 分类号: | G01D5/50 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 姚艳 |
地址: | 215434 江苏省苏州市太*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 兼容性 射线 传感器 面板 探测器 | ||
本发明提供一种具有高兼容性的X射线传感器面板、X射线探测器,其中,所述具有高兼容性的X射线传感器面板至少包括:面板图像探测区域,以及设置在所述面板图像探测区域任意相对两侧的与所述面板图像探测区域连接的双边焊盘区域。本发明的具有高兼容性的X射线传感器面板,将传统TFT面板设计方案进行优化,在面板图像探测区域的任意两侧设计双边焊盘区域,提高了对不同的X射线探测器结构的兼容性,减少了设计、生产和管理成本;并且,双边焊盘区域可以包含双读出边焊盘或者双驱动边焊盘区,能够兼容各种对驱动侧和读出侧相对位置有不同需求的X射线探测器结构,特别适用于单边驱动单边读出的X射线探测器结构。
技术领域
本发明涉及探测器技术领域,特别是涉及一种具有高兼容性的X射线传感器面板、X射线探测器。
背景技术
数字化X射线摄影(Digital Radiography,简称DR),是上世纪90年代发展起来的X射线摄影新技术,以其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点,成为数字X射线摄影技术的主导方向,并得到世界各国的临床机构和影像学专家认可。DR的技术核心是X射线探测器,而具有薄膜晶体管面阵列的X射线传感器面板(也称TFT面板)是X射线探测器的最关键组成部分。在实际的X射线影像系统开发中,对X射线传感器面板的设计有兼容性上的需求,主要来自以下两个方面:
1、对X射线影像系统商来说,可能会在同一台X射线探测器中采用来自不同供应商的X射线传感器面板,这就要求不同供应商的X射线传感器面板与确定的X射线探测器结构之间都要兼容;由于整个影像系统的结构可能会对X射线探测器的结构有一定限制,这就要求X射线传感器面板具备相对应的兼容性。
2、对X射线探测器的生产商来说,若要针对不同的X射线探测器结构需求开发不同的X射线传感器面板,费时费力,成本也会被显著提高。因此,设计一款能兼容多种X射线探测器结构的X射线传感器面板,一方面降低设计、开模、生产成本,另一方面也有利于产品种类的收敛化,降低管理成本。
在传统的X射线传感器面板设计中,会根据当时输入的特定结构需求,来确认X射线传感器面板的驱动边和读出边,一旦设计完成后驱动与读出的位置便相对固定并且不可更改。若有不同的X射线探测器结构需求,只能重新设计X射线传感器面板。
现有单边驱动单边读出的X射线传感器面板,其设计方案是根据X射线探测器结构的需求,来确定读出边和驱动边的相对位置,因此X射线探测器的结构导致X射线传感器面板的读取边和驱动边的相对位置是固定的(某些技术因素导致面板不能翻面),进而导致Gate PCB和Read PCB的相对位置也被固定。这样的X射线传感器面板只能兼容相类似的特定结构的X射线探测器。假设已确定的结构设计方案要求的X射线传感器面板的读取边和驱动边的相对位置与已有的面板设计不一致,则该已有面板不能被用于已确定的结构设计方案,需要重新设计、开模,大大增加了时间、资金成本。例如:若X射线探测器结构要求如图1(a)所示的X射线传感器面板设计方案,包括面板基板10、位于面板基板10上的面板图像探测区域(Active Area,也可称AA区)11以及驱动边焊盘区12和读出边焊盘13,其中,驱动边焊盘区12和读出边焊盘13的相对位置分别在面板图像探测区域11的左侧和下侧,进而导致外围驱动电路所在的Gate PCB(Printed Circuit Board,印制电路板)20和外围读出电路所在的Read PCB 30的相对位置也被相应固定,因此如图1(b)所示的X射线传感器面板设计方案不能与图1(a)兼容,无法满足X射线探测器结构的设计要求,只能重新设计开模。
因此,如何对现有技术中的X射线传感器面板和平板探测器进行改进,在不影响性能的前提下,提高X射线传感器面板对不同的X射线探测器结构的兼容性,是亟待解决的问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种具有高兼容性的X射线传感器面板、X射线探测器,用于解决现有技术中X射线传感器面板对不同的X射线探测器结构的兼容性差的问题。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奕瑞影像科技(太仓)有限公司,未经奕瑞影像科技(太仓)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710102257.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种光纤布拉格光栅角度传感器
- 下一篇:圆柱锂电池测试装置