[发明专利]一种合成孔径雷达成像方法及装置在审

专利信息
申请号: 201710091131.9 申请日: 2017-02-20
公开(公告)号: CN106950566A 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 孙吉利;郑明洁;禹卫东 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 代理人: 王花丽,张颖玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 合成孔径雷达 成像 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种合成孔径雷达SAR成像方法,其特征在于,所述方法包括:

确定所述SAR的第一角速度和成像时间;其中,所述第一角速度是所述SAR进行滑动聚束成像时方位向波束扫描的角速度;

根据所述SAR的机械最大旋转角速度确定第二角速度;其中,所述第二角速度是所述SAR进行机械扫描的角速度;

根据所述第一角速度和所述第二角速度确定第三角速度,其中,所述第三角速度是所述SAR进行电扫描的角速度;

根据所述第二角速度、第三角速度和成像时间控制所述SAR进行机械扫描和电扫描,得到回波数据;

根据所述回波数据进行滑动聚束成像。

2.根据权利要求1中所述的方法,其特征在于,所述确定所述SAR的第一角速度和成像时间包括:

采集所述SAR的系统参数;

获取预先设定的成像区域方位向长度和方位向分辨率;

根据所述系统参数、成像区域方位向长度和方位向分辨率确定所述SAR的第一角速度和成像时间。

3.根据权利要求2中所述的方法,其特征在于,所述系统参数至少包括:所述SAR的飞行速度Vs、距离成像场景的最短斜距R0、天线等效方位向长度Da和方位向波束宽度θa,对应地,所述根据所述系统参数、成像区域方位向长度和方位向分辨率确定所述SAR的第一角速度和成像时间包括:

根据公式确定旋转中心斜距Rrot;其中,ρ为所述方位向分辨率;

根据公式和确定所述SAR进行滑动聚束成像的扫描角度θsteer;其中,Xscene为所述成像区域方位向长度;

按照公式确定所述成像时间Ta

按照公式确定所述第一角速度ω。

4.根据权利要求1中所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一角速度和所述第二角速度确定第三角速度,包括:

按照公式ωb=ω-ωs确定第三角速度ωb;其中,所述ωs为第二角速度,所述ω为第一角速度。

5.根据权利要求1中所述的方法,其特征在于,在所述根据所述第二角速度、第三角速度和成像时间控制所述SAR进行机械扫描和电扫描,得到回波数据之前,所述方法还包括:

确定所述SAR进行电扫描的最大扫描角度;

判断所述第二角速度和所述成像时间的乘积是否不大于所述电扫描的最大扫描角度;

如果所述第二角速度和所述成像时间的乘积不大于所述电扫描的最大扫描角度,则根据所述第二角速度、第三角速度和成像时间控制所述SAR进行机械扫描和电扫描,得到回波数据。

6.根据权利要求5中所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

如果所述第二角速度和所述成像时间的乘积大于所述电扫描的最大扫描角度,则提示重新设定成像区域方位向长度和方位向分辨率。

7.根据权利要求1-5中任一所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二角速度、第三角速度和成像时间控制所述SAR进行机械扫描和电扫描包括:

控制所述SAR按照所述第二角速度进行时长为所述成像时间的机械扫描;

控制所述SAR按照所述第三角速度进行时长为所述成像时间的电扫描;其中,所述机械扫描的开始时间和所述电扫描的开始时间的间隔在预设的时间范围内。

8.一种合成孔径雷达SAR成像装置,其特征在于,所述装置包括:

第一确定模块,用于确定所述SAR的第一角速度和成像时间;其中,所述第一角速度是所述SAR进行滑动聚束成像时方位向波束扫描的角速度;

第二确定模块,用于根据所述SAR的机械最大旋转角速度确定第二角速度;其中,所述第二角速度是所述SAR进行机械扫描的角速度;

第三确定模块,用于根据所述第一角速度和所述第二角速度确定第三角速度,其中,所述第三角速度是所述SAR进行电扫描的角速度;

控制模块,用于根据所述第二角速度、第三角速度和成像时间控制所述SAR进行机械扫描和电扫描,得到回波数据;

成像模块,用于根据所述回波数据进行滑动聚束成像。

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