[发明专利]测试系统、分类系统以及测试方法

说明书

本发明公开了测试系统、分类系统和测试方法。测试系统用于测试待测件，待测件具有至少一个输入端和/或至少一个输出端，测试系统包括：输入测试模块，用于根据控制信号产生第一毫米波信号；输出测试模块，用于根据控制信号对第二毫米波信号进行检测；连接模块，用于根据控制信号选定待测件的输入端之一作为第一输入端与输入测试模块相连、选定待测件的输出端之一作为第一输出端与输出测试模块相连，待测件的所述第一输入端与第一输出端具有对应关系；控制模块提供控制信号，并根据采样数据获得待测件的测试结果，以通过预先配置端口等自动化设计达到提高测试精度、兼容能力、可靠性、灵活性以及测试效率的目的，同时也降低了成本。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，更具体地，涉及测试系统、分类系统以及测试方法。

背景技术

毫米波通常指波长在1mm到10mm的电磁波，相应频率为 30～300GHz。毫米波的特点是：波长短、波束窄、频带宽、穿透等离子体能力强、具有较好的全天候能力以及较强的探测辐射特性等，因此毫米波器件得到了广泛的应用。毫米波器件和毫米波电路在发展新一代军用雷达、超高速计算机、电子对抗、卫星通信、遥控、遥测及新型武器等方面起着重要的作用。

目前国内缺乏毫米波器件自动测试的方法。一方面，普通毫米波测试设备存在设备跨波段通用性差、价格高、采购周期长等缺点，导致使用普通毫米波测试设备搭建自动化测试方案的可行性低；另一方面，使用现有的集成电路自动测试机(Automatic TestEquipment,ATE)仅能测量少数的几项参数，无法实现对毫米波器件的各项重要参数的全面测量，因此存在着背侧毫米波器件失效但无法被检出的风险。

现有技术一般采用手动测试的方式对毫米波器件进行测量，但是手动测试的测试效率低、可靠性低，而且无法降低测试成本。

发明内容

为了解决上述现有技术存在的问题，本发明提供一种测试系统、分类系统以及测试方法，其能够自动化地实现毫米波器件的测试，与传统的手工测试的方法相比，提高了测试效率以及测试结果的精确度和可靠性，并且降低了成本。

根据本发明的第一方面，提供了一种测试系统，用于测试待测件，所述待测件具有至少一个用于接收第一毫米波信号的输入端和/或至少一个用于提供第二毫米波信号的输出端，其中，所述测试系统包括：输入测试模块，用于根据控制信号产生所述第一毫米波信号；输出测试模块，用于根据所述控制信号对所述第二毫米波信号进行检测；连接模块，用于根据所述控制信号选定所述待测件的所述至少一个输入端之一作为第一输入端、根据所述控制信号选定所述待测件的所述至少一个输出端之一作为第一输出端，所述待测件的所述第一输入端与所述第一输出端具有对应关系，所述连接模块将所述第一输入端与所述输入测试模块相连以使所述第一输入端接收所述第一毫米波信号，所述连接模块将所述输出测试模块与所述第一输出端相连以使所述输出测试模块接收所述待测件的所述第一输出端提供的所述第二毫米波信号；控制模块，用于提供所述控制信号，并根据所述测试系统的采样数据获得所述待测件的测试结果。

优选地，所述输入测试模块包括：第一信号发生装置，其用于根据所述控制信号产生第一信号；以及第一衰减装置，其用于根据所述控制信号调节所述第一信号以得到所述第一毫米波信号。

优选地，所述测试系统还包括第一检测装置，所述连接模块在所述控制信号的控制下将所述第一毫米波信号输入至所述第一检测装置，所述控制模块根据所述第一检测装置的检测结果对所述测试结果进行补偿。

优选地，所述输出测试模块包括：接收单元，其根据所述控制信号对所述第二毫米波信号进行处理以得到第二信号；第一采样装置，其根据所述第二信号产生至少部分所述采样数据。