[发明专利]针对温度的力校准

权利要求书

1.一种处理系统，其包括：

被配置成耦合到多个力传感器电极的传感器电路，所述传感器电路被配置成驱动所述多个力传感器电极来获得第一多个电容性测量结果；以及

处理电路，其被可操作地连接到所述传感器电路并且被配置成：

将所述第一多个电容性测量结果聚合成聚合测量结果，

将电容性测量结果到温度映射应用于所述聚合测量结果以获得所述多个力传感器电极的当前温度，

确定感测区中不存在输入对象，其中获得所述多个力传感器电极的当前温度是对确定不存在所述输入对象的响应，以及

存储所述当前温度以获得存储温度。

2.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述传感器电路还被配置成：

驱动所述多个力传感器电极以获得第二多个电容性测量结果；

其中所述处理电路还被配置成：

确定所述感测区中存在输入对象，

响应于确定存在所述输入对象将温度到增益映射应用于所述存储温度以获得增益，以及

将所述增益应用于所述第二多个电容性测量结果以获得多个经修订的电容性测量结果。

3.根据权利要求2所述的处理系统，其中所述处理电路还被配置成：

使用所述多个经修订的电容性测量结果来确定输入表面上的力；以及

报告所述力。

4.根据权利要求1所述的处理系统，其中聚合所述第一多个电容性测量结果包括对所述第一多个电容性测量结果求平均。

5.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述电容性测量结果到温度映射包括线性函数。

6.根据权利要求5所述的处理系统，其中所述线性函数使用测试环境的温度作为截距。

7.根据权利要求1所述的处理系统，其中所述传感器电路还被配置成：

在测试环境中驱动所述多个力传感器电极来获得第二多个电容性测量结果，

其中所述处理电路还被配置成：

获得测试环境的测试环境温度，

聚合所述第二多个电容性测量结果以获得测试电容性测量结果，以及

将所述测试电容性测量结果和所述测试环境温度作为所述电容性测量结果到温度映射保存在存储器中。

8.一种力校准方法，其包括：

驱动多个力传感器电极来获得第一多个电容性测量结果；

将所述第一多个电容性测量结果聚合成聚合测量结果；

将电容性测量结果到温度映射应用于所述聚合测量结果以获得所述多个力传感器电极的当前温度；

确定感测区中不存在输入对象，其中获得所述多个力传感器电极的当前温度是对确定不存在所述输入对象的响应；以及

存储所述当前温度以获得存储温度。

9.根据权利要求8所述的方法，其还包括：

驱动所述多个力传感器电极以获得第二多个电容性测量结果；

确定所述感测区中存在输入对象；

响应于确定存在所述输入对象将温度到增益映射应用于所述存储温度以获得增益；以及

将所述增益应用于所述第二多个电容性测量结果以获得多个经修订的电容性测量结果。

10.根据权利要求9所述的方法，其还包括：

使用所述多个经修订的电容性测量结果来确定输入表面上的力；以及

报告所述力。

11.根据权利要求8所述的方法，其中聚合所述第一多个电容性测量结果包括对所述第一多个电容性测量结果求平均。

12.根据权利要求8所述的方法，其中所述电容性测量结果到温度映射包括线性函数。

13.根据权利要求12所述的方法，其中所述线性函数使用测试环境的温度作为截距。