[发明专利]用于处理金属母件和用于分类金属废件的装置及方法有效
申请号: | 201710080825.2 | 申请日: | 2017-02-15 |
公开(公告)号: | CN107081367B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | D.皮茨卡;D.扎瓦茨基;M.维尔布斯 | 申请(专利权)人: | 许勒压力机有限责任公司 |
主分类号: | B21D28/02 | 分类号: | B21D28/02;B21D28/26;B21C51/00;B07C5/34 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 严志军;张昱 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 处理 金属 分类 装置 方法 | ||
1.一种用于处理金属母件(11)和用于分类金属废件(12)的装置(10),包括:
具有用于处理所述母件(11)的上刀具(15)和下刀具(16)的至少一个压机(13)或至少一个压台(14);
至少一个分离单元(22),其构造成分离所述母件(11)的待分离的至少一部分(24),其中各个已分离的部分形成废件(12),
所述至少一个压机(13)或压台(14)的压机(13)或压台(14)形成所述分离单元(22),且包括用于分离所述待分离的至少一部分(24)的分离工具部分(23),以及/或者在于所述至少一个压机(13)或压台(14)的压机(13)或压台(14)包括用于成形所述母件(11)的成形工具部分;
光学探测单元(38),其构造成探测各个废件(12)的至少一个几何特征(G),且生成对应于所探测到的至少一个几何特征(G)的控制信号(S),所述至少一个几何特征(G)是所述废件(12)的外部轮廓和/或所述废件(12)的部分或区域的轮廓;以及
分类单元(33),其构造成取决于所述控制信号(S)除去和沉积所述至少一个废件(12),或者进一步向前传送所述至少一个废件(12)。
2.根据权利要求1所述的装置,
其特征在于,提供了标记单元(43),且所述标记单元(43)构造成将标记(M1,M2,M3)施加至所述母件(11)的所述待分离的至少一部分(24),所述标记(M1,M2,M3)特征为所述母件(11)的材料,且构成可光学地探测到的至少一个几何特征(G)。
3.根据权利要求2所述的装置,
其特征在于,将以随材料而定的方式施加的所述标记(M1,M2,M3)取决于所述母件(11)的材料预先限定至所述标记单元(43)。
4.根据权利要求2或3所述的装置,
其特征在于,所述标记单元(43)构造成施加标记(M1,M2,M3),其关于所述待分离的至少一部分(24)的边界表面凸出和/或凹入。
5.根据权利要求2或3所述的装置,
其特征在于,所述标记单元(43)包括至少一个激光器(46),以用于将所述标记(M1,M2, M3)雕刻在所述母件(11)的待分离的一部分(24)中。
6.根据权利要求1所述的装置,
其特征在于,提供了标记单元(43),且所述标记单元(43)构造成将特征为所述母件(11)的材料的标记(M1, M2, M3)施加至所述母件(11)的所述待分离的至少一部分(24),以及在于所述标记单元(43)包括至少一个标记凸模(44),其布置在所述至少一个压机(13)或压台(14)的压机(13)或压台(14)的所述上刀具(15)上和/或所述下刀具(16)上。
7.根据权利要求2所述的装置,
其特征在于,所述标记单元(43)构造成以一种方式引入所述标记(M1, M2, M3),使得其在所述废件(12)的相对两侧上是可光学地探测的。
8.根据权利要求1所述的装置,
其特征在于,所述分类单元(33)包括至少一个给送通道(34)和至少两个出口通道(35),其中所述分类单元(33)构造成取决于所述控制信号(S)将到达所述给送通道(34)的所述至少一个废件(12)进一步传送至所提供的出口通道(35)中的一个。
9.根据权利要求1所述的装置,
其特征在于,提供了用于将所述至少一个废件(12)带离的传送单元(28),以及在于所述光学探测单元(38 )布置成邻近于所述传送单元(28),且被视作在传送的废件(12)的传送方向上布置在所述分类单元(33)之前,或布置在所述分类单元(33)的给送通道(34)处。
10.根据权利要求1所述的装置,
其特征在于,所述光学探测单元(38)包括至少一个相机(39)。
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