[发明专利]一种用于大口径扫描反射镜的微应力粘接装配方法有效
申请号: | 201710061747.1 | 申请日: | 2017-01-26 |
公开(公告)号: | CN106772921B | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 惠刚阳;杨海成;王涛;张燕;石凯;刘欣;左晓舟;刘伟光;卢恒 | 申请(专利权)人: | 西安应用光学研究所 |
主分类号: | G02B7/183 | 分类号: | G02B7/183 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 陈星 |
地址: | 710065 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 口径 扫描 反射 应力 装配 方法 | ||
本发明提出一种用于大口径扫描反射镜的微应力粘接装配方法,对橡胶垫用“预压伸缩比”控制方法实现了反射镜装配参量化控制需求,保证了装配质量;通过分区和底部注胶工艺解决了40mm深0.5mm宽的容胶缝无法灌胶的问题,并且保证了胶层的连续均匀性;通过工艺导条在胶层之间形成了8个15mm宽40mm深的空气间隙,保证胶液充分吸收空气中的水分达到固化的目的,解决了40mm深的连续胶层无法固化的问题;通过增加8个工艺定位导条,将反射镜准确定位与反射镜框上,保证了涂胶层厚度的均匀性;在反射镜与镜框装配时在镜框底部的基准面上均匀涂一层防尘脂,解决底面溢出胶液粘接产生拉伸应力的问题;该方法操作简单、方便,粘接固定应力小,可以广泛应用于大口径扫描反射镜装配过程中。
技术领域
本发明属于光机装调技术领域,主要是针对于大口径扫描反射镜的装配结构形式提出的一种微应力粘接装配工艺方法,用于反射镜的装配,保证反射镜的面形精度,提高系统成像质量。
背景技术
扫描反射镜作为重要的光学零件广泛应用于光电产品中,其镜面面形直接影响着光学系统的光路及成像质量。另外,反射镜作为运动部件,需要在保证刚度的情况下尽量减轻重量,降低转动惯量。扫描反射镜组件一般结构设计简单,由反射镜框与反射镜组成,但其装调精度即装调后的面形保持精度要求较高,所以实现反射镜的微应力粘接装配是保证整体光学系统成像质量的关键。反射镜的微应力粘接装配一般要求反射镜粘接工艺过程与反射镜压板装配固定过程带来的应力不能导致镜面面形变化,影响镜面波相差的要求。
粘接技术的优化改进可以有效减小反射镜安装时的装配应力,减小镜面的变形,粘接与压板辅助固定装配可以减小压板固定带来的应力集中问题,有利于反射镜在伺服系统中的应用。传统的粘接装配过程是在反射镜与镜框配合缝隙中灌胶,一般胶层较浅,且胶层不均匀,对于胶层深度要求超过30mm时,由于受到两侧阻力就无法直接灌胶;而传统的压板装配过程,压板对光学表面产生的压力无法定量控制,且每个压板的压力大小不均匀导致镜面变形甚至破坏。
在发明名称为小口径微晶玻璃材料反射镜微应力装配柔性支撑方法(专利号201110166444.9)中采用了微应力柔性支撑与粘接的方法,利用柔性卸载槽与粘接配合的技术装配,增大了温度适应性,改善了受力环境,但粘接时必须选用无应力胶进行粘接,并且柔性卸载槽的支撑降低了镜框支架与反射镜的整体刚性,不利于伺服控制,无法实现伺服控制的扫描反射镜装配。
在发明名称为反射镜粘接方法及反射镜粘接装置(专利号201310064202.8)中描述了一种反射镜粘接方法和装置,主要粘接方法是在反射镜镜槽中开设了一个或多个胶槽,在反射镜镜槽之间,开设筋位通槽,在反射镜载体背面板上设置进胶口以及排气口连通胶槽,有利于点胶和粘接过程中产生的气泡排除,提高粘接可靠性。但该方法只适合有粘接要求的批量阵列排布的小光学件粘接,无法解决大口径反射镜由温度变化带来尺寸伸缩使胶层带来应力的问题,并且此专利中没有描述反射镜压板的装配技术。
发明内容
本发明解决的技术问题是:
主要解决大口径扫描反射镜粘接装配后面形精度难以保证的问题。提出了对橡胶垫用“预压伸缩比”控制方法实现了反射镜装配参量化控制需求,保证了装配质量;通过分区和底部注胶工艺解决了40mm深0.5mm宽的容胶缝无法灌胶的问题,并且保证了胶层的连续均匀性;通过工艺导条在胶层之间形成了8个15mm宽40mm深的空气间隙,保证胶液充分吸收空气中的水分达到固化的目的,解决了40mm深的连续胶层无法固化的问题;通过增加8个工艺定位导条,将反射镜准确定位于反射镜框上,保证了涂胶层厚度的均匀性;在反射镜与镜框装配时在镜框底部的基准面上均匀涂一层防尘脂,解决底面溢出胶液粘接产生拉伸应力的问题;该方法操作简单、方便,粘接固定应力小,可以广泛应用于大口径扫描反射镜装配过程中。
本发明的技术方案为:
所述一种用于大口径扫描反射镜的微应力粘接装配方法,其特征在于:包括以下步骤:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安应用光学研究所,未经西安应用光学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710061747.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。