[发明专利]检测器信号处理电路

权利要求书

1.一种检测器信号处理电路，其中检测器用于检测X射线分析仪器中的荧光X射线能量响应并且发送检测器响应信号，所述X射线分析仪器被配置为包括工作模式和校准模式，所述检测器信号处理电路包括用于放大放大器输入的至少一个放大器以及处理用模数转换器即处理用ADC，

所述检测器信号处理电路的特征在于还包括：

脉冲生成用脉冲发生器，用于提供具有脉冲振幅和脉冲发生器频率的校准脉冲，在所述至少一个放大器中，所述放大器输入是所述校准脉冲和/或所述检测器响应信号，并且放大器输出分别提供放大脉冲电压和/或放大响应信号电压，所述处理用ADC用于提供针对所述放大脉冲电压和所述放大响应信号电压的数字化处理，以分别产生数字化的脉冲电压值和数字化的响应信号电压值；

单个共用参考电压元件，用于提供参考电压信号；

参考用模数转换器即参考用ADC，用于将所述校准脉冲转换成参考脉冲值；

校准比计算部，用于计算所述脉冲电压值相对于所述参考脉冲值的校准比；以及

能量标度校正部，用于计算所述响应信号电压值相对于所述校准比的工作模式比，并且基于所述工作模式比来校正所述荧光X射线能量响应。

2.根据权利要求1所述的检测器信号处理电路，其中，所述单个共用参考电压元件将所述参考电压信号提供至所述脉冲发生器、所述参考用ADC和所述处理用ADC。

3.根据权利要求1所述的检测器信号处理电路，其中，所述校准模式与作为所述校准脉冲的放大器输入相关联，并且所述工作模式与作为所述检测器响应信号的放大器输入相关联。

4.根据权利要求1所述的检测器信号处理电路，其中，所述参考用ADC能够与所述处理用ADC相比以更快的速度进行工作。

5.根据权利要求1所述的检测器信号处理电路，其中，所述参考用ADC是24位ADC，并且所述处理用ADC是16位ADC。

6.根据权利要求1所述的检测器信号处理电路，其中，所述脉冲发生器被配置成使得所述脉冲振幅接近所述检测器响应信号的典型振幅。

7.根据权利要求1所述的检测器信号处理电路，其中，所述校准比计算部被配置为基于针对所述校准脉冲的多个连续脉冲的所述脉冲电压值相对于所述参考脉冲值的平均比，来计算所述校准比。

8.根据权利要求1所述的检测器信号处理电路，其中，还包括校准模式控制器，所述校准模式控制器被配置为接收期望校准处理的选择并且执行所述期望校准处理。

9.根据权利要求8所述的检测器信号处理电路，其中，所述期望校准处理包括以下步骤：

a)选择在N次测量之后进行校准；

b)选择所述校准模式并且计算所述校准比；

c)选择所述工作模式，计算所述工作模式比，并且校正针对所述N次测量的所述荧光X射线能量响应；

d)选择所述校准模式并且计算新的校准比；以及

e)返回至步骤c)。

10.根据权利要求8所述的检测器信号处理电路，其中，还包括时钟，所述时钟被配置为将定时信息发送至所述校准模式控制器，其中，所述期望校准处理包括以下步骤：

a)选择在指定时间间隔之后进行校准；

b)选择所述校准模式并且计算所述校准比；

c)选择所述工作模式，计算所述工作模式比，并且校正所述荧光X射线能量响应，直到所述时钟表示已经经过了所述指定时间间隔为止；

d)选择所述校准模式并且计算新的校准比；以及

e)返回至步骤c)。

11.根据权利要求1所述的检测器信号处理电路，其中，还包括切换器，所述切换器用于分别在所述校准模式和所述工作模式期间，将所述放大器输入切换为所述校准脉冲或所述检测器响应信号。