[发明专利]电气构件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710026186.1 申请日: 2017-01-13
公开(公告)号: CN107027260B 公开(公告)日: 2020-03-03
发明(设计)人: 克劳斯·曼弗雷德·施泰尼希 申请(专利权)人: ASM自动化传感器测量技术有限公司
主分类号: H05K5/06 分类号: H05K5/06
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 德国莫*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 电气 构件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种制造电气构件(1)的方法,所述电气构件具有壳体和设于所述壳体中的灌封电子电路板,所述电气构件包括:

筒形壳体(2),具有设于端侧的壳体开口(2');

电路板(9),其上设有传感元件(4);

其中所述电路板(9)与所述筒形壳体(2)的内腔(14)的底部(14a)隔开布置,且与所述筒形壳体(2)的敞开侧隔开布置,从而在灌封之前,在所述壳体(2)中,在所述电路板(9)下方形成下内腔(14.1),且在所述电路板(9)上方形成上内腔(14.2),所述下内腔与所述上内腔通过填注口(18)彼此连通;

其实现方式为:

a)将所述电路板(9)导电连接至从所述电路板(9)引出去的芯线(13)的末端,并且将所述电路板(9)放置在所述壳体(2)的内腔(14)中的支承面(12a)上并加以固定,以至少防止所述电路板与所述支承面轴向分离;且

b)在内部设有所述电路板(9)的所述壳体(2)的内腔(14)中填注尚未硬化的液态或粘稠状的灌封材料(20'),并且

其特征在于,

在步骤b)中依次实施:

b1)所述壳体(2)保持在预定的填注位置,使得所述下内腔(14.1)至少部分位于所述电路板(9)的填注口(18)下方;

b2)在所述填注位置上,所述液态或粘稠状的灌封材料(20')以一体积通过所述填注口(18)而经过所述电路板(9)或者穿过所述电路板而进入所述下内腔(14.1),所述体积小于所述下内腔(14.1)的体积,且接着,所述壳体(2)以预定的第一时长保持所述填注位置,所述填注位置作为第一粘附位置,在所述第一粘附位置上,所述灌封材料(20')不到达所述填注口(18);还包括如下b2.1):

在b2)之后,用插塞(5)封闭所述填注口(18);或者

在b2)之后,用插塞(5)封闭所述填注口(18),并且用其他插塞(5')也将所述下内腔(14.1)与所述上内腔(14.2)之间附加存在的连接口(19)封闭;

b3)在此之后,所述壳体(2)绕非竖向的偏转轴(15)旋转,并且所述壳体(2)以预定的第二时长保持在第二粘附位置,并且

b4)所述壳体(2)进入再填注位置,在所述再填注位置上,所述壳体开口(2')的最低点高于所述电路板(9)的最高点;

b5)在所述再填注位置上,将尚未硬化的液态或粘稠状的灌封材料(20')以一体积施加到所述上内腔(14.2)中以及所述电路板(9)的顶面(9b)上,所述体积小于所述上内腔(14.2)的体积,并且

b6)在第三粘附位置上,以第三时长等待所述灌封材料(20')硬化;

其中,还包括在b3)之后重新移除至少一个插塞(5)的步骤,该步骤是:

在b6)之后的b7),其前提是,在b5)和b6)中以也将所述填注口(18)和/或附加存在的连接口(19)覆盖的方式施加所述灌封材料(20'),并且所述灌封材料硬化;或者

在b5)之前的b4.1),或在b4)之前,其前提是,在b5)和b6)中,所述灌封材料(20')的施加和粘附发生于所述填注口和/或附加存在的连接口(19)周围。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

在确定的灌封材料温度和/或确定的周围温度下,将所述液态或粘稠状的灌封材料(20')填注到所述下内腔和/或所述上内腔(14.1、14.2)中,

且/或

被填注到空腔中的灌封材料的体积占相关空腔的体积的40%以上;且/或

所述实现方式还包括步骤c)将盖子(3)紧密放置在所述筒形壳体(2)的敞开侧上,以便所述盖子(3)在已制成的所述电气构件(1)中封闭所述筒形壳体(2)的敞开侧。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述灌封材料(20、20')的类型和/或所述灌封材料的粘度和/或所述灌封材料温度和/或在各个时长的持续期间填注时的周围温度,确定所述第一时长和/或所述第二时长。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,以6Pas至9Pas的粘度送入所述灌封材料(20'),在15℃至25℃的灌封材料温度和/或15℃至25℃的确定的周围温度下。

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