[发明专利]在泄漏测试中减少产品加热的装置在审

专利信息
申请号: 201710026163.0 申请日: 2017-01-13
公开(公告)号: CN107014571A 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 鲍克·J·大卫;霍夫曼·E·雅克 申请(专利权)人: 因特瑞驰开发公司
主分类号: G01M3/26 分类号: G01M3/26
代理公司: 上海旭诚知识产权代理有限公司31220 代理人: 郑立,应风晔
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 泄漏 测试 减少 产品 加热 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种泄漏测试方法和装置,更具体地涉及包括清洗阶段的泄漏测试方法和装置。

背景技术

流体流过的产品(例如软管、阀组、导管、管线、泵、容器等)易于泄漏。产品可以是零件或单元件。许多这种产品的制造商在将物品运送给客户之前测试每个物品的泄漏情况。例如,制造商可以对每个物品进行泄漏测试,作为产品的制造过程的一部分。如果泄漏测试需要大量的时间,则泄漏测试可能阻碍制造过程并增加每个物品的制造时间。因此,制造商努力进行快速和准确的泄漏测试,以便减少每个物品的制造时间。

泄漏测试通常通过用流体,例如气体,填充物品来进行。这通常被称为“填充阶段”。该物品被填充直至达到指定的所需测试压力(例如10psig)。在填充阶段,物品内的压力从0psig增加至所需的测试压力(例如从0psig增加至10psig)。如果物品被快速填充流体,则热量产生,并且不能像其产生那样快地耗散,使得物品内的流体的温度升高(即发生绝热加热)。精确的泄漏测试直到热量耗散足够长的时间才能进行。热量充分耗散所需的时间被称为“稳定阶段”。一旦热量耗散,就可以进行泄漏测试测量。例如,流量传感器能够检测物品内的流体的流量,其可以指示泄漏。这被称为“测试阶段”。减少热量耗散所需的时间量(即减少稳定阶段的持续时间)将是有益的,因为它将减少泄漏测试所需的总时间,从而减少制造时间。

附图说明

本发明的实施例在附图中被阐述,其中:

图1是一个实施例的泄漏测试装置的框图;

图2A是描述一个实施例的在清洗阶段的泄漏测试装置的框图;

图2B是描述一个实施例的在填充阶段的泄漏测试装置的框图;

图3A是一个实施例的在稳定阶段的泄漏测试装置的框图;

图3B是一个实施例的在测试阶段的泄漏测试装置的框图;

图4A是描述没有清洗阶段的泄漏测试期间的压力和流量的图400;

图4B是描述包括清洗阶段460的泄漏测试期间的压力和流量的图450;

图5是描述一个实施例的进行包括清洗阶段的泄漏测试的操作流程图。

具体实施方式

引言

本节提供了对本发明主题的一些实施例的介绍。

图1是一个实施例的泄漏测试装置的框图。图1所示的示例性的泄漏测试装置仅是一个示例性泄漏测试装置,并且存在许多其它设置。该示例性泄漏测试装置包括流体源102、待测体积(例如容纳待测产品的容器,或类似物,其中待测产品至少部分地限定被测体积)、测量装置112,以及多个阀104、108和110。被测体积可以完全由“产品”界定,或被测体积可以由“产品”和所需元件(固定板或类似物)组成以产生封闭体积。

在泄漏测试中,流体源102将流体提供给被测体积,以用流体填充被测体积。如图1所示,被测体积是被测产品106,流体源102将流体提供给被测产品106,以用流体填充被测产品106。流体可以是任何合适的气体(例如氢气、氦气、环境空气等)或液体(例如水)。在一些实施例中,提供给被测产品106的流体可以被明确地调节为具有多种性质中的任何一种。例如,流体可以被调节为具有特定的温度、差温(例如为高于/低于被测产品的温度或环境温度的恒定值的温度)、相对或绝对湿度、流体组分(例如气体组分)等。在整个测试中,多个阀104、108和110在打开位置和关闭位置之间交替。如图1所示,阀104和110表示关闭的阀(即阀处于不允许流体通过该阀的位置),以及阀108表示打开的阀(即阀处于允许流体通过该阀的位置)。在适当的时间,测量装置112用于测量能够指示泄漏的被测体积的参数。测量装置112可以是任何合适的测量装置,并测量任何合适的参数。例如,测量装置可以是测量在被测产品106中和/或周围的流体流量的流量传感器(例如质量流量传感器、体积流量传感器等)、测量在被测产品中和/或周围的的流体压力的压力传感器、温度传感器、体积传感器、温度计或计时器。因此,泄漏测试测量可以是压力测量、温度测量或时间测量中的一个或多个。

虽然图1示出了泄漏测试装置的一般实施例,但以下部分描述了本发明主题的许多其它特征和实施例。

操作环境

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