[发明专利]波动光学综合测试仪器设备在审
| 申请号： | 201710024984.0 | 申请日： | 2017-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN106643527A | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 李淑青 | 申请（专利权）人： | 太原工业学院 |
| 主分类号： | G01B11/04 | 分类号： | G01B11/04;G01B11/08;G01B11/26;G09B23/22 |
| 代理公司： | 济南鼎信专利商标代理事务所(普通合伙)37245 | 代理人： | 曹玉琳 |
| 地址： | 030008 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 波动 光学 综合测试 仪器设备 | ||
1.波动光学综合测试仪器设备，包括设置有中心轴(18)的底座(20)，其特征在于：中心轴(18)上设置用于安装可调节光源(1)和待测光学器件的光源轨道(4)、用于读取转动角度的游标盘(14)，游标盘(14)外围套设可转动刻度盘(16)，刻度盘(16)连接可与其同步转动的光屏轨道(8)，光屏轨道(8)上设置用于接收光源信号的可调节光屏(9)。
2.如权利要求1所述的波动光学综合测试仪器设备，其特征在于：游标盘(14)上对径设置α游标(15)和β游标(12)，用于配合刻度盘(16)测量角度。
3.如权利要求2所述的波动光学综合测试仪器设备，其特征在于：所述α游标(15)和β游标(12)上面分别标有最小分度值为1′的0～30′的分度线，刻度盘(16)的周向均匀标有最小分度值为30′的0～360°的分度线。
4.如权利要求1所述的波动光学综合测试仪器设备，其特征在于：光源轨道(4)和光屏轨道(8)上均设有最小分度值为毫米的刻度。
5.如权利要求1所述的波动光学综合测试仪器设备，其特征在于：中心轴(18)上还设置有与游标盘(14)同轴的载物台(5)，载物台(5)中心处设置用于固定待测光学器件的插孔(6)。
6.如权利要求5所述的波动光学综合测试仪器设备，其特征在于：载物台(5)为双层结构，上层通过三个可调节高度和水平度的调平螺丝(7)顶起。
7.如权利要求1所述的波动光学综合测试仪器设备，其特征在于：中心轴(18)上还设置有可转动的支撑臂(19)，光屏轨道(8)和游标盘(14)均与支撑臂(19)固定连接。
8.如权利要求1所述的波动光学综合测试仪器设备，其特征在于：光源轨道(4)下方还设有用于支撑的立柱(17)，光源轨道(4)上安装光源底座(2)和备用底座(3)，光源底座(2)上安装光源(1)，备用底座(3)上安装待测光学器件；光屏轨道(8)上安装光屏底座(10)，光屏底座(10)上安装光屏(9)。
9.如权利要求1所述的波动光学综合测试仪器设备，其特征在于：光源(1)为激光器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于太原工业学院，未经太原工业学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710024984.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种防水散热型客车仓门
- 下一篇：一种温度增敏型分布式布里渊光纤传感器
