[发明专利]一种低温诱导制备硅纳米线的方法在审

专利信息
申请号: 201710006437.X 申请日: 2017-01-05
公开(公告)号: CN106835041A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 黄仕华;刘剑;井维科 申请(专利权)人: 浙江师范大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/14;C30B29/06;C30B23/08;B82Y40/00
代理公司: 杭州之江专利事务所(普通合伙)33216 代理人: 朱枫
地址: 321004 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 低温 诱导 制备 纳米 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于光电薄膜技术领域,尤其涉及一种采用金属锡诱导的低温磁控溅射法制备硅纳米线的方法。

背景技术

硅的一维纳米结构,即硅纳米线作为一维纳米结构材料由于其在独特的光、电、磁学等特性已成为近年的研究热点,受到广泛的关注。其中常用的制备硅纳米线的方法是金属诱导化学气相沉积法。硅纳米材料有望应用于光伏太阳能电池,纳米级传感器、存储器等微电子器件中,因为密集的硅纳米线阵列具有良好的陷光作用,在径向结硅纳米线太阳能电池中有非常大的应用前景。

目前,非晶硅薄膜晶化的主要方法包括:(1)固相晶化法,(2)快速热退火法,(3)准分子激光晶化法,(4)金属诱导晶化法等。在上述的几种方法中,固相晶化和快速热退火方法是利用加热是硅原子获得足够高的能量,从而重新排列变成多晶态,这一般需要在很高的温度(高于900℃)下才能实现。一般的玻璃衬底软化温度比较低(不超过600℃),无法承受住如此高温,所以利用固相晶化和快速热退火方法很难实现玻璃衬底上非晶硅的晶化。如果想要在较低的温度(低于600℃)下实现晶化,需要的时间就要延长,大约20~100小时,这不仅需要消耗大量能量,生产效率低下,而且还不利于大的晶粒的形成。后来,随着激光技术的发展,激光被用于非晶硅薄膜的晶化。由于硅对紫外光有很强的吸收能力,所以使用激光对非晶硅薄膜进行加热,可以使瞬间薄膜获得很高的温度而晶化,并且不影响玻璃衬底。激光诱导非晶硅晶化可以获得大尺寸的晶粒,能够获得高质量的多晶硅薄膜,被广泛应用于TFT显示中。但是激光诱导晶化成本很高,不适合大面积的多晶硅薄膜的生产。

发明内容

为了解决上述问题,本发明提供一种低温诱导制备硅纳米线的方法

,能够在较低温度下,完成硅纳米线的制备,从而适合大面积多晶硅薄膜的生产。

为此采用如下的技术方案:

一种低温诱导制备硅纳米线的方法,其特征在于采用如下步骤:

1)金属锡薄膜的磁控溅射生长:

将衬底材料装入进样真空室,控制真空室的气压达到5×10-4 Pa,通入20 sccm的氩气,调节反应真空室内的气压达到1.0 Pa时,打开锡靶的溅射电源;开始锡薄膜生长前,先进行30分钟的预溅射,去除锡靶材表面的氧化层;预溅射完成后,打开反应室和进样室的插板阀,将样品送入反应室,并将样品进行定位;采用直流溅射,溅射功率60W,溅射温度为室温,溅射时间为20分钟;生长完成后锡薄膜的典型厚度为100 nm;

2)非晶硅薄膜的磁控溅射生长:

在完成锡薄膜的生长后,将生长有一层锡薄膜的衬底材料加热至250~400℃,在原位开始生长非晶硅薄膜;其生长工艺和步骤与步骤1)基本相同,不同之处在于采用射频溅射,溅射功率20W,溅射温度为250~400℃,溅射时间为80分钟;生长完成后非晶硅薄膜的典型厚度为200 nm。

在本发明的技术方案中,采用首先在衬底上和常温下利用磁控溅射法生长一层100 nm厚的金属锡,这层锡对后续生长的非晶硅晶化起到了非常重要的作用。在加热的初始阶段,当温度超过锡-硅共晶点(232 ℃)时,在衬底表面上就会形成大量的纳米级球形锡液滴,这些球形锡液滴就诱导了随后的硅纳米线的生长。锡液滴在硅纳米线的生长中十分关键,若如果当生长温度低于232℃时,这时没有形成锡液滴,不能观察到硅纳米线的生长。

随后把生长有一层锡薄膜的衬底加热到250~400℃以后,之后采用磁控溅射的方法生长一层200 nm厚的非晶硅薄膜,此时,锡液滴作为成核点,吸收从靶材被溅射出来的硅原子形成锡-硅合金液滴,这样不断吸附的硅原子使得锡-硅合金过饱和,导致了固相的硅成核、生长,最终形成了硅纳米线。

附图说明

图1是在250 ℃下生长的硅纳米线SEM图,右上角插图是顶端带有Sn球的硅纳米线的高分辨SEM图。

图2是在300 ℃下生长的硅纳米线SEM图,右上角插图是顶端带有Sn球的硅纳米线的高分辨SEM图。

图3是在350 ℃下生长的硅纳米线SEM图,右上角插图是顶端带有Sn球的硅纳米线的高分辨SEM图。

图4是在400 ℃下生长的硅纳米线SEM图,右上角插图是顶端带有Sn球的硅纳米线的高分辨SEM图。

图5是在350 ℃下生长的硅纳米线(a)顶部和(b)茎部的能量色散X射线谱。

图6是在不同温度下生长的硅纳米线的拉曼谱。

具体实施方式

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