[发明专利]紫外-可见光-近红外透反射光谱测量装置和测量方法有效
申请号: | 201710000703.8 | 申请日: | 2017-01-03 |
公开(公告)号: | CN106841065B | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 刘世杰;王圣浩;王微微;徐天柱 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01N21/25;G01N21/01 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 紫外 可见光 红外 反射 光谱 测量 装置 测量方法 | ||
1.一种紫外-可见光-近红外透反射光谱测量装置,包括复色光源(1),在复色光源(1)的光束输出方向依次是单色器(2)、光阑(3)、偏振片(4)和分束器(5),其特征在于,在所述分束器(5)的参考光出射方向是参考光高速探测器(11),在所述分束器(5)的测试光出射方向依次是待测样品(7)和测试光高速探测器(12),所述的参考光高速探测器(11)的输出端与示波器(13)的第一输入端相连,所述的测试光高速探测器(12)的输出端与所述的示波器(13)的第二输入端相连,所述的示波器(13)的输出端与计算机(10)的输入端相连,该计算机(10)的输出端与所述的单色器(2)控制端相连,所述的单色器(2)出射波长连续变化。
2.利用权利要求1所述的紫外-可见光-近红外透反射光谱测量装置测量待测样品(7)的透射光谱的方法,主要包括以下步骤:
①在光路中不放置待测样品(7),利用计算机(10)控制所述的单色器(2)的出射波长从λ1匀速的增加到λn,持续时间为t,所述的参考光高速探测器(11)和测试光高速探测器(12)采集连续的光强信号,所述的示波器(13)记录参考光高速探测器(11)和测试光高速探测器(12)采集到的光强信号序列,分别记为和并输入所述的计算机(10);
②在所述的分束器(5)和测试光高速探测器(12)之间的光路中安装待测样品(7),所述的计算机(10)控制所述的单色器(2)的出射波长从λ1匀速的增加到λn,持续时间为t,所述的参考光高速探测器(11)和测试光高速探测器(12)保持连续的光强信号采集,所述的示波器(13)记录参考光探测器(11)和测试光探测器(12)采集到的光强信号序列,分别记为和并输入所述的计算机(10);
③所述的计算机(10)按如下公式计算待测样品(7)的透射比序列T(t):
④根据如下公式,分别计算k和b:
b=λ1 (1.3)
⑤把透射比序列T(t)的横坐标t,按照如下公式转化为波长λ,
λ=kt+b (1.4)
得到待测样品(7)的透射光谱T(λ)。
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