[发明专利]同位素的电参数在审
申请号: | 201680090613.6 | 申请日: | 2016-10-31 |
公开(公告)号: | CN109964133A | 公开(公告)日: | 2019-07-02 |
发明(设计)人: | P·H·马祖尔基维茨;葛宁;H·A·霍尔德 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G04F1/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘书航;陈岚 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 同位素 电参数 化学反应 反应控制 测量 | ||
一种示例器件包括:同位素部分,包括具有至少一种同位素的材料;反应控制部分,用以引起包括所述至少一种同位素的化学反应;以及电参数部分,用以测量在电参数上的改变以确定在具有所述至少一种同位素的材料的量上的改变,电参数基于化学反应而改变。
背景技术
许多元素具有在自然界中存在的同位素。元素是由在其原子核中的质子的数量定义的。例如,碳在其原子核中具有6个质子,氮在其原子核中具有7个质子,并且锌在其原子核中具有30个质子。一些元素具有在原子核中具有不同数量的中子的各种同位素。例如,锌具有在自然界中存在的具有34、36、37、38或者40个中子的五种稳定的同位素。
附图说明
为了更完整地理解各种示例,现在参照与随附附图有关地取得的以下描述,在附图中:
图1是示例器件的示意图示;
图2是示例系统的示意图示;
图3是另一个示例系统的示意图示;
图4是图示示例处理的流程图;并且
图5图示具有包括由处理器可执行的指令的计算机可读存储介质的示例系统的框图。
具体实施方式
各种示例提供了可以使用元素的同位素形成的器件。在各种示例中,可以形成存储器器件,其中每个存储器元件、或者位可以由至少一种同位素形成。可以测量与同位素相关联的电参数以确定同位素的状态。例如,包含同位素的材料的电阻抗可以指示包含同位素的材料的水平或者包含不同同位素的两种材料的比率。所述水平或者比率可以通过诸如化学反应的反应来改变,因此改变确定的状态。化学反应可以是同位素的氧化并且可以是可逆的。
如在上面指出的那样,各种元素可以具有在自然界中存在的稳定的同位素。牵涉元素的化学反应的速率可以取决于在反应中使用的该元素的同位素而改变。例如,以下反应图示在甲基溴和氰化物的反应中碳的不同同位素的使用:
不同同位素的使用改变反应的速率,一种已知为动力学同位素效应(KIE)的效应。在上面的示例中,当与使用碳12的反应的速率进行比较时,在使用碳13的情况下反应的速率降低。在以上示例中,KIE可以被表示为:
KIE=k12/k13=1.082±0.008
在各种示例中,一种或多种同位素的各种方面可以被用于检测或者确定电参数。例如,反应的速率可以对应于包含同位素的材料的电阻抗上的改变。在这点上,包含同位素的材料的水平或者包含不同同位素的两种材料的比率可以基于测量的电参数(诸如阻抗)来确定。例如,化学反应可以包括同位素的氧化。增加的氧化可能造成降低的电阻抗。因此,当包含不同同位素的两种材料被氧化相同长度的时间时,由于具有一种同位素的材料与具有另一种同位素的材料相比氧化得更快,所以两种材料的电阻抗可以是不同的。
因此,可以以高效并且成本有效的方式检测同位素材料,而不使用昂贵并且笨重的设备,诸如质谱仪。进一步地,例如在只有有限的一组实体或者用户(诸如制造商)可获得并且知道用于编码信息的材料和同位素的知识的情况下,可以增强安全性。附加地,同位素材料的测试或者检测可以在没有可能要求的任何破坏性操作(例如,移除同位素材料)的情况下执行。
现在参照各图,图1图示具有至少一种同位素的示例器件。在图1的示例中,示例器件100包括同位素部分110、反应控制部分120和电参数部分130。在各种示例中,示例器件100可以在印制电路板(PCB)上实现。
同位素部分110可以包括具有至少一种同位素的材料。例如,同位素部分110可以包括具有诸如例如锌、钼或者镍的元素的稳定同位素的材料。在各种示例中,除了(一种或多种)同位素之外,材料还可以包括对于例如牵涉(一种或多种)同位素的反应而言可能需要的其它组分。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠普发展公司;有限责任合伙企业,未经惠普发展公司;有限责任合伙企业许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680090613.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。