[发明专利]监视设备的功能状态的方法和装置以及存储介质

权利要求书

1.一种监视用于工件(104)的计算机断层扫描检查的设备(106)的功能状态的计算机实现的方法，其中，对工件(104)的计算机断层扫描检查包括对所述工件(104)执行一次或更多次计算机断层扫描测量，其中，这些测量各自产生至少一个测量变量的至少一个测量值，其中，监视所述功能状态的所述方法包括以下步骤：

●从对一个或更多个工件(104)的至少两次测量中选择至少一个测量变量的测量值，

●确定所述至少一个测量变量的所选择的测量值的至少一个分散度量，

●确定所述至少一个测量变量的测量值的至少一个基准分散度量，以及

●通过将所述至少一个测量变量的所确定的至少一个分散度量与所述至少一个基准分散度量进行比较来确定所述设备(106)的功能状态，

其中，所述分散度量是包含关于所述测量值的分布的信息的度量。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述设备(106)的功能状态的步骤包含以下步骤：

●确定所确定的至少一个分散度量与所述至少一个基准分散度量之间的差值，

●将所确定的差值与所述差值的至少一个允许值范围进行比较，

●如果所述差值在所述至少一个允许值范围之外，则输出信息，

其中，所述信息表明所述差值在所述至少一个允许值范围之外。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，确定所述设备(106)的功能状态的步骤包括：确定测量变量的所确定的分散度量的时间特性，其中，通过将所确定的特性与所述至少一个基准分散度量进行比较来估计所述分散度量与所述基准分散度量之间的差值何时将会在所述差值的至少一个允许值范围之外。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在训练阶段确定所述至少一个基准分散度量，其中，所述训练阶段包含以下步骤：

●从具有对多个工件(104)的多次测量的基准测量系列中选择至少一个测量变量的基准测量值，

●根据从所述基准测量系列选择的所述至少一个测量变量的基准测量值确定所述至少一个基准分散度量。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，紧接在在所述用于工件(104)的计算机断层扫描检查的设备(106)的维修并重启和/或初始测量并重启之后执行所述训练阶段。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，定期地或不定期地且/或在检查特定数量的工件之后重复所述训练阶段。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，至少一个基准分散度量取决于所述设备(106)的环境参数。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据被检查工件(104)的一个或更多个投影图像和/或根据借助于被检查工件(104)的投影图像产生的该被检查工件(104)的三维重构来确定所述测量值。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在检查至少一个工件(104)之后，分别重复对测量值的选择、对所选择的测量值的至少一个分散度量的确定以及对所述设备(106)的功能状态的确定。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，用于确定所述分散度量的所述测量值选自对紧连着的工件(104)的测量。

11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量变量包括工件特定的测量变量，其中，所述工件特定的测量变量只能在特定种类的工件上确定。

12.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量变量包括非工件特定的测量变量，其中，所述非工件特定的测量变量能在不同种类的工件上确定。