[发明专利]一种单板、电子设备及选通的方法

权利要求书

1.一种单板，其特征在于，所述单板包括：

联合测试行动组JTAG模块、存储模块、通道选择模块及存储接口；

所述通道选择模块与所述JTAG模块电连接，所述通道选择模块与所述存储接口电连接，所述通道选择模块与所述存储模块电连接；

所述通道选择模块，用于在JTAG测试设备与所述存储接口电连接时，连通所述存储接口与所述JTAG模块；

以及在存储设备与所述存储接口电连接时，连通所述存储接口与所述存储模块；

所述通道选择模块包括第一选通端，第二选通端，公共端和选通控制引脚，所述第一选通端与所述JTAG模块的接口端电连接，所述第二选通端与所述存储模块的接口端电连接，所述公共端与所述存储接口电连接；

所述选通控制引脚用于控制所述公共端与所述第一选通端连接，和控制所述公共端与所述第二选通端通信连接；

所述存储模块的接口端包括：指令引脚、时钟引脚、第一测试数据引脚、第二测试数据引脚、第三测试数据引脚及第四测试数据引脚；

所述第二选通端包括：与所述指令引脚对应的第六通道引脚、与所述时钟引脚对应的第七通道引脚、与所述第一测试数据引脚对应的第八通道引脚、与所述第二测试数据引脚对应的第九通道引脚、与所述第三测试数据引脚对应的第十通道引脚、及与所述第四测试数据引脚对应的第十一通道引脚；

输入所述选通控制引脚的信号为第二电平时，所述通道选择模块中的所述第六通道引脚、所述第七通道引脚、所述第八通道引脚、所述第九通道引脚、所述第十通道引脚、及所述第十一通道引脚选通。

2.根据权利要求1所述的单板，其特征在于，

所述JTAG模块的接口端包括：测试模式选择引脚、测试时钟引脚、测试数据输入引脚以及测试数据输出引脚；

所述第一选通端包括：与所述测试模式选择引脚对应的第一通道引脚、与所述测试时钟引脚对应的第二通道引脚、与所述测试数据输入引脚对应的第三通道引脚、以及与所述测试数据输出引脚对应的第四通道引脚；

输入所述选通控制引脚的信号为第一电平时，所述通道选择模块中的所述第一通道引脚、所述第二通道引脚、所述第三通道引脚、以及所述第四通道引脚选通；

所述第一电平与所述第二电平不同。

3.根据权利要求1-2中任一项中所述的单板，其特征在于，所述存储接口包括存储设备检测引脚，所述存储设备检测引脚与所述选通控制引脚电连接；

所述存储设备检测引脚，用于在JTAG测试设备与所述存储接口电连接时，触发输入所述选通控制引脚的信号为第一电平；在存储设备与所述存储接口电连接时，触发输入所述选通控制引脚的信号为所述第二电平。

4.根据权利要求1所述的单板，其特征在于，

所述通道选择模块，还用于在与所述JTAG模块形成通路时，将来自所述JTAG测试设备的JTAG测试信号输入所述JTAG模块；

所述JTAG模块，用于根据从所述通道选择模块接收到的JTAG测试信号，执行所述JTAG测试信号对应的测试项，并将测试得到的第一测试数据传输至所述通道选择模块；

所述通道选择模块，还用于将来自所述JTAG模块的所述第一测试数据通过所述存储接口传输至所述JTAG测试设备。

5.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

如权利要求1至4任一项中所述的单板。

6.一种选通的方法，所述方法应用于单板，其特征在于，所述方法包括：

在联合测试行动组JTAG测试设备与所述单板中的存储接口电连接时，所述单板中的通道选择模块连通所述存储接口与所述单板中的JTAG模块；

在存储设备与所述单板中的存储接口电连接时，所述通道选择模块连通所述存储接口与所述单板中的存储模块；

所述通道选择模块包括第一选通端，第二选通端，公共端和选通控制引脚，所述第一选通端与JTAG模块的接口端电连接，所述第二选通端与所述存储模块的接口端电连接，所述公共端与所述单板中的存储接口电连接；所述存储接口包括存储设备检测引脚，所述存储设备检测引脚与所述选通控制引脚电连接；

所述在联合测试行动组JTAG测试设备与所述单板中的存储接口电连接时，所述单板中的通道选择模块连通所述存储接口与所述单板中的JTAG模块，包括：

在所述JTAG测试设备与所述单板中的存储接口电连接时，所述存储设备检测引脚输入所述通道选择模块中的选通控制引脚的信号为第一电平，所述选通控制引脚选通所述第一选通端，以使所述JTAG测试设备与所述JTAG模块通信连接；

所述在存储设备与所述单板中的存储接口电连接时，所述通道选择模块连通所述存储接口与所述单板中的存储模块，包括：

在所述存储设备与所述单板中的存储接口电连接时，所述存储设备检测引脚输入所述通道选择模块中的选通控制引脚的信号为第二电平，所述选通控制引脚选通所述第二选通端，以使所述存储设备与所述存储模块通信连接；所述第二电平与所述第一电平不同。