[发明专利]用于对对象进行X射线成像的装置有效

专利信息
申请号: 201680069968.7 申请日: 2016-11-21
公开(公告)号: CN108289649B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: T·克勒;H-I·马克;T·普拉洛 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 李光颖;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 对象 进行 射线 成像 装置
【说明书】:

发明涉及一种用于对对象进行X射线成像的装置。它被描述为提供(20)与对X射线的探测相关的数据,其中,X射线探测器被配置为相对于X射线源被定位,使得所述X射线源与所述X射线探测器之间的区域的至少部分是用于容纳对象的检查区域。X射线干涉仪布置被配置为相对于所述检查区域被定位。确定透射通过所述对象的至少部分的X射线辐射的至少一个X射线暗场因数和至少一个透射因数。根据所确定的至少一个暗场因数和所确定的至少一个透射因数的函数来控制要朝向所述对象的所述至少部分发射的X射线辐射的强度。

技术领域

本发明涉及用于对对象进行X射线成像的装置,并且涉及用于对对象进行X射线成像的方法,以及计算机程序单元和计算机可读介质。

背景技术

基于光栅的差分相位对比和暗场成像是有前景的技术,其将很可能特别是在胸部成像的领域中添加额外的诊断价值,因为暗场信号信道对肺部组织的微结构的改变是高度敏感的。

US2012/0145912A1描述了一种放射学图像探测装置,其包括第一光栅、第二光栅、扫描单元、放射学图像探测器、辐射探测单元和控制单元。扫描单元将放射学图像和第二光栅中的至少一个相对地移位到放射学图像与第二光栅的相差不同于彼此的多个位置。辐射探测单元被提供在辐射的路径上,并且探测被辐射到放射学图像探测器的辐射。控制单元允许扫描单元在由辐射探测单元探测到的辐射的辐射剂量探测值被衰减到给定水平的时间段内执行第一光栅与第二光栅的相对移位操作。

US 20151031986 A1描述了X射线设备和对相位对比成像的使用,并且特别地关注于相位对比图像在调节X射线剂量方面的性质。

WO 20131004574 A1(2013-01-1OJ)描述了适合于相位对比成像的方法和设备。

US 20131011040 A1描述了使用相位对比成像的X射线成像。

LIU YET AL:“Recent advances in synchrotron-based hard x-ray phasecontrast imaging”(JOURNAL OF PHYSICS D:APPLIED PHYSICS,INSTITUTE OF PHYSICSPUBLISHING LTD,GB,第46卷,第49号,2013年11月22日(2013-11-22),第494001页,XP020253615,ISSN:0022-3727,DOI:10.1088/0022-37271461491494001)讨论了X射线相位对比成像的领域中的各种工作。

在临床前研究中,已经表明像慢性阻塞性肺病(COPD)和纤维化的普遍肺部疾病能够通过这种技术被准确地识别并且甚至量化。仍然保持空白的是如何建立操作系统(诸如临床系统)。

发明内容

因此,具有用于对对象进行成像的改进的装置将会是有利的。

本发明的目的通过独立权利要求的主题得以解决,其中,进一步的实施例被并入从属权利要求中。应当指出,本发明的以下描述的方面也适于用于对对象进行X射线成像的装置和用于对对象进行X射线成像的方法,并且适于计算机程序单元和计算机可读介质。

根据第一方面,提供了一种用于对对象进行X射线成像的装置,其包括:

-X射线源;

-X射线干涉仪布置;

-X射线探测器;以及

-处理单元。

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