[发明专利]液晶聚酯组合物、成形体和连接器

权利要求书

1.一种液晶聚酯组合物，其为包含液晶聚酯和板状无机填料的液晶聚酯组合物，

通过下述测定条件的荧光X射线分析检测出所述板状无机填料中包含的成分的信号并针对其每个成分求出所述信号的强度时，在所述板状无机填料中，铁的信号强度相对于硅的信号强度的比率为1～1.75，钛的信号强度相对于硅的信号强度的比率为超过0且0.08以下，

测定条件：

硅的信号强度：作为X射线真空管而使用4kW端对准型钌，将检测硅的Kα射线时的所述X射线真空管的输出功率设为32kV/125mA来进行测定；

铁的信号强度：作为X射线真空管而使用4kW端对准型钌，将检测铁的Kα射线时的所述X射线真空管的输出功率设为60kV/66mA来进行测定；

钛的信号强度：作为X射线真空管而使用4kW端对准型钌，将检测钛的Kα射线时的所述X射线真空管的输出功率设为40kV/100mA来进行测定。

2.根据权利要求1所述的液晶聚酯组合物，其中，相对于所述液晶聚酯的含量100质量份，所述板状无机填料的含量为10质量份～250质量份。

3.根据权利要求1或2所述的液晶聚酯组合物，其中，在所述板状无机填料中，通过下述测定条件的荧光X射线分析检测出的钙的信号强度相对于硅的信号强度的比率为0～0.003，

测定条件：

硅的信号强度：作为X射线真空管而使用4kW端对准型钌，将检测硅的Kα射线时的所述X射线真空管的输出功率设为32kV/125mA来进行测定；

钙的信号强度：作为X射线真空管而使用4kW端对准型钌，将检测铁的Kα射线时的所述X射线真空管的输出功率设为32kV/125mA来进行测定。

4.根据权利要求1或2所述的液晶聚酯组合物，其中，所述板状无机填料为云母。

5.根据权利要求1或2所述的液晶聚酯组合物，其中，所述液晶聚酯具有下述通式(1)所示的重复单元、下述通式(2)所示的重复单元和下述通式(3)所示的重复单元，

(1)-O-Ar¹-CO-

(2)-CO-Ar²-CO-

(3)-X-Ar³-Y-

式(1)～(3)中，Ar¹表示亚苯基、亚萘基或亚联苯基，Ar²和Ar³相互独立地表示亚苯基、亚萘基、亚联苯基或下述通式(4)所示的基团，X和Y相互独立地表示氧原子或亚氨基，Ar¹、Ar²或Ar³所示的所述基团中的1个以上氢原子任选相互独立地被卤素原子、碳数1～28的烷基或碳数6～12的芳基取代，

(4)-Ar⁴-Z-Ar⁵-

式(4)中，Ar⁴和Ar⁵相互独立地表示亚苯基或亚萘基，Z表示氧原子、硫原子、羰基、磺酰基或碳数1～28的烷叉基。

6.一种成形体，其是将权利要求1～5中任一项所述的液晶聚酯组合物成形而成的。

7.一种连接器，其是将权利要求1～5中任一项所述的液晶聚酯组合物成形而成的。