[发明专利]有缺陷的图像传感器元件的校准

权利要求书

1.一种图像处理方法，包括：

经由图像传感器采集多个图像，其中，所述图像传感器包括多个传感器元件，所述传感器元件被配置为表示所采集的多个图像中的相应的像素；

其中，所述多个图像利用光学元件的至少一个属性的不同的相应的值而被采集，其中，所述光学元件耦合到所述图像传感器；

将所述多个图像组合成聚合图像；

基于所述聚合图像，确定所述多个传感器元件中的特定传感器元件的状况；

将所确定的特定传感器元件的状况映射到传感器元件状况映射图中，并且将所述传感器元件状况映射图与时间相关联；和

在有效负载图像中，调节与所述特定传感器元件相关联的特定像素的值，其中，调节所述特定像素的值是基于所述传感器元件状况映射图、以及与对应的多个不同时间相关联的多个传感器元件状况映射图的历史记录。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述多个图像利用由所述光学元件限定的不同的相应的焦距设定而被采集。

3.根据前述权利要求中的任一项所述的方法，其中，利用所述光学元件中的至少一个属性的不同的相应的值采集所述多个图像包括以下至少一个：调节所述光学元件的视场，调节所述光学元件的变焦设定，调节所述光学元件的光圈设定，或调节光学元件的位置。

4.根据权利要求1所述的方法，还包括测量所述图像传感器的视场，并且基于所述测量，选择用于采集所述多个图像的所述图像传感器的快门速度和灵敏度。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，利用所述光学元件的至少一个属性的不同的相应的值采集所述多个图像包括使所述光学元件执行自动聚焦过程，其中，所述自动聚焦过程包括相对于所述图像传感器调节所述光学元件的位置，以便为每个相应的图像提供不同的相应的焦距设定。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述多个图像组合成所述聚合图像包括对所述多个图像的关联像素值进行平均。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，确定特定传感器元件的状况包括：

将相应的像素的值与所述聚合图像中的至少一个相邻像素的值进行比较；和

基于所述比较确定相应的像素与所述至少一个相邻像素之间的差在预定阈值以上。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所确定的状况包括以下至少一个：无缺陷传感器元件、热传感器元件、暗传感器元件、或被遮挡的传感器元件。

9.根据权利要求1所述的方法，其中，调节所述特定像素的值包括将所述特定像素的值设定为至少一个相邻像素的对应值。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，调节所述特定像素的值包括将所述特定像素的值设定为多个相邻像素的对应平均值。

11.一种光学成像系统，包括：

图像传感器，其包括多个传感器元件，所述传感器元件被配置为表示所采集的图像中的相应的像素；

光学元件，其耦合到所述图像传感器，并且被配置为限定所采集的图像的焦距设定；和

控制器，其包括存储器和至少一个处理器，其中，所述处理器被配置为执行存储在所述存储器中的指令，以执行根据前述权利要求中任一项所述的方法。

12.一种包括处理器可执行指令的计算机可读介质，所述处理器可执行指令在被执行时使计算机执行根据权利要求1至10中任一项所述的方法。