[发明专利]用于校准至少一个处理元件的方法

说明书

本发明涉及一种用于校准处理塑料预成型件的处理站中至少一个处理元件，特别是至少一个温度传感器，的方法，其中，首先提供测量预成型件；其中，在处理站进行处理之前，由至少一个测量元件，测量所述测量预成型件的至少一个第一测量值，以及在处理站进行处理之前或之后，由所述测量元件或其他测量元件，测量所述测量预成型件的第二测量值，并且所述测量元件使用至少这两个测量值来记录数学温度曲线，特别是数学温度线，其中至少一个校准装置确定测量曲线与数学标准温度曲线的偏差，并且通过适配处理站的处理参数，至少部分地消除所述偏差。

技术领域

本发明涉及用于校准至少一个处理元件的方法，特别是用于校准处理站中至少一个温度传感器，还涉及用于校准至少一个处理元件的对应设备，特别是用于校准处理站中至少一个温度传感器，以及根据权利要求1和12的前序部分的用于加热塑料预成型件的装置。

背景技术

本文中描述的方法包括首先提供测量预成型件的第一步骤，然后，在用于处理塑料预成型件的处理站对其进行处理之前或之后，通过至少一个测量元件测量所述测量预成型件的至少一个第一测量值。

这可能意味着，在测量之后，对测量值进行特别的数学处理，以便能够对所述测量值作进一步的详细分析。

测量值可以是压力值、温度值、应力值、时刻值、方位值、持续时间、流量值、格式值、速度值、辐射值(例如微波辐射)，特别是辐射强度值、和/或细菌数。换句话说，至少一个测量元件可用于测量压力值、温度值、应力值、时刻值、方位值、持续时间、气体或液体量(例如体积值)、速度、辐射强度或场强度、和/或细菌数。特别地，测量元件可以包括多个测量传感器，其中每个测量传感器可以确定或测量上述值中的一个或多个。特别地，测量元件可以包括多个相同类型的测量传感器。

格式值，尤其代表某些几何值或化学值，其涉及一个或多个所要生产的瓶子或预成型件的几何参数或材料成分，并且这些几何或化学值又可以分配给吹风机、过滤机和/或标签设备中的特定格式部件，特别是处理单元。

至少一个测量值可以特别地对应于吹风机、过滤机(过滤器)和/或标签设备中的容器(预成型件和/或瓶子)的物理处理参数。

因此，例如测量元件可以包括用于温度测量的光学和/或电学温度传感器，其通过与测量预成型件接触或者也可以不接触的方式，来测量由测量预成型件发射的相应电磁辐射，特别是热辐射。此外，测量元件可以包括处理和存储单元，所述处理和存储单元可以存储和处理被测量的温度值。

但是，上述公开内容不能实现这样的目的，即在一个设备中包括多个相同类型的并列的独立处理站，所述处理站必须相互校准，以便提供统一的输出。

各个处理站，即各个加工处理站，例如微波炉，通常形成一个通常可以自动进行处理的封闭系统。

例如，如果将这些处理站中的几个组合到一个设备中，比如组合到循环输送机中，各个处理站的温度传感器必须彼此同步，以避免随后反映在输出质量上的处理站之间的偏移。在这种情况下，术语“偏移”描述的是标准工作值或标准工作范围内的任何偏差，所述偏差与参数相关并由参数限定。

温度传感器，尤其是非接触式温度传感器，比如高温计，对处理过程及环境的变化非常敏感。元件公差、背景辐射、传感器外壳的温度变化、不同的发光值、老化影响以及其他许多影响因素，都会影响温度传感器的测量精度。

在多个处理站的情况下，这些因素可能具有不同的影响力，这将导致各个处理站较大或较小的测量不准确性。

由此，现有技术不能根据预选择的标准曲线，提供适应于设备中多个独立处理站的设施，例如用于处理塑料预成型件的设施，从而减小这种常规选择的标准曲线的各个偏差。

因此，在此基础上，本发明的目的是解决上述问题，并且指出了一种特别简单的、经济的、操作可靠的方法，通过该方法可以特别简单地进行校准，即将处理元件调整为标准曲线。特别地，标准曲线可以是标准温度曲线。