[实用新型]一种干扰粒子红外遮蔽率三维静态测试装置有效

专利信息
申请号: 201621438358.3 申请日: 2016-12-26
公开(公告)号: CN206348264U 公开(公告)日: 2017-07-21
发明(设计)人: 李晓霞;郭宇翔;冯云松;马德跃;程正东;朱斌;邓潘 申请(专利权)人: 中国人民解放军电子工程学院
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙)34115 代理人: 宋倩
地址: 230037 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 干扰 粒子 红外 遮蔽 三维 静态 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种干扰粒子红外遮蔽率三维静态测试装置,其特征在于:该装置包括粒子布撒器、红外辐射源、红外热像仪、若干个支架框和若干个空白样板;所述空白样板由红外透明基底和固定其边缘的刚性圆环构成;所述粒子布撒器,用于将干扰粒子均匀分散在所述空白样板上以制成测试样板;所述支架框与所述空白样板的数量相同,所述支架框,用于在无干扰粒子遮蔽时一一对应放置所述空白样板,还用于在有干扰粒子遮蔽时一一对应放置所述测试样板,并依次垒叠构成三维立体测试结构;所述红外辐射源放置于所述三维立体测试结构的下方;所述红外热像仪放置于所述三维立体测试结构的上方,用于采集干扰粒子遮蔽前、后所述红外辐射源和其背景的等效黑体温度。

2.根据权利要求1所述的干扰粒子红外遮蔽率三维静态测试装置,其特征在于:所述支架框为带四脚支架的正方形框,所述带四脚支架的正方形框的边长与所述刚性圆环的内径取值满足以下关系:

<mrow><mi>a</mi><mo>&lt;</mo><mi>d</mi><mo>&lt;</mo><msqrt><mn>2</mn></msqrt><mi>a</mi></mrow>

其中,a表示带四脚支架的正方形框的边长,d表示刚性圆环的内径。

3.根据权利要求1所述的干扰粒子红外遮蔽率三维静态测试装置,其特征在于:所述红外辐射源为一恒温黑体或恒温热源。

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