[实用新型]测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量装置、尤其是一种用于狭小空间的测量装置。

背景技术

在飞机的研制、批产或者维修期间，需要对于狭小空间进行尺寸的测量。例如，在飞机维修期间需要测量细孔的内径或者两孔之间的边距等等。然而，在这种狭小空间中，操作者难以用双手操作测量工具对其进行测量。尤其是，这种狭小空间经常会存在照明不足的问题，使得准确测量尺寸变得更为困难。

在测量领域中，已知存在直尺、卷尺、游标卡尺、螺旋测微器等各种测量精度不同的测量工具。然而，这些测量工具对周围操作环境有较高要求，同时不便于在飞机研制及维修现场快速、准确的测量。例如，尽管螺旋测微器是比游标卡尺更精密的测量长度的工具，用它测长度可以准确到0.01mm，但其体积较大，不便于在狭小空间内进行操作。

此外，还已知由一组具有不同厚度级差的薄钢片组成的量规(也被称为塞尺)。塞尺可用于测量间隙尺寸或其它间距尺寸。在检验被测尺寸是否合格时，也可由检验者根据塞尺与被测表面配合的松紧程度来判断。然而，在飞机中许多待测量的狭小空间中，操作者难以用双手同时操作这种塞尺、或者勉强在单手操作的情况下也不能确保塞尺测量的精准度。

因此，现有的各种测量手段和测量工具均不能满足飞机上照明不良的狭小空间内物体的尺寸测量及检查要求。

实用新型内容

本实用新型涉及一种一种测量装置，该测量装置包括至少一个测微片，并且还包括：顶部构件，该顶部构件直线状地延伸；支承构件，该支承构件与该顶部构件连接，以将该顶部构件支承于测量面上；其中，该测微片在其内包含开孔，该顶部构件穿过该开孔，以使得该测微片能套装到该顶部构件上，且该测微片能相对于该顶部构件摆动到测量位置。借助该测量装置可以实现狭小空间的尺寸测量。尤其是，这种测量装置还可以实现方便操作、提高测量效率的目的。

特别是，该测量装置还可包括底部构件，该顶部构件直线状地延伸，并与顶部构件平行、但在垂直方向上并不对准，并且比顶部构件更接近于该测量面。

有利的是，底部构件包含刻度。在此情形中，该测微片能相对于该顶部构件摆动到与该测量位置不同的校正位置，在该校正位置中，该测微片搁置于该底部构件上。通过将借助该底部构件实现的测量与借助测微片测量的结果相比，实现对测量结果的校正，从而提高尺寸测量的准确度。

有利的是，该测量装置的支承构件包括连接构件，连接构件设置成连接顶部构件与底部构件。由此，连接构件可实现顶部构件与底部构件之间的稳定连接。

例如，顶部构件可以包含刻度。利用这些刻度不但可以实现常规的尺寸测量(无须测微片)，还可以在利用测微片进行测量的情况下进行测量结果的校正。

在某些情况下，该底部构件包括第一底部构件和第二底部构件，该连接构件将该第一底部构件、该第二底部构件以及该顶部构件连接成三棱柱式框架，在该校正位置中，该测微片搁置于该第一底部构件和该第二底部构件中的一者之上。

有利的是，该连接构件包括分别在该第一底部构件、该第二底部构件以及该顶部构件的纵向两端处使三者连接起来的横梁。

特别有利的是，在该三棱柱式框架中，该第一底部构件和该第二底部构件关于该顶部构件为对称布置，该第一底部构件、该第二底部构件以及该顶部构件的长度相等。这样可以得到一种非常均衡的布置，从而实现测量装置的可靠支承与尺寸的稳定测量。

较佳地，测微片的开孔沿测微片的纵向延伸，并且构造成使得顶部构件在测微片的开孔内的纵向位置能改变。由此，就可以调节顶部构件与测微片之间的位置关系，从而对不同尺寸、例如不同深度的测量对象进行尺寸测量。

尤其是，测微片的长度大于顶部构件与底部构件之间的直线距离，以使得在校正位置中测微片能够可靠地搁置于底部构件上。

有利地，该顶部构件的横截面为圆形，以便于测微片绕其枢转。

此外，该测微片能沿着该顶部构件的纵向自由地移动，以便于相对于测量位置的更快速定位。

较佳的是，在该测量装置上、特别是其支承构件上还设置有用于对测量空间进行照明的可开关的光源，从而满足对照明不佳的测量环境的尺寸测量需求。

另外，在该底部构件上可设有吸盘，以将该测量装置固定在该测量面上。例如，当将测量装置安置在顶壁上时，可以利用该吸盘仍然可靠地将测量装置吸在顶壁上。

特别有利的是，在测微片的测量位置中，测微片定向成与测量面垂直。

附图说明

图1示意地示出一种典型的测微片的结构；