[实用新型]一种光学分条机的线外检测系统有效

专利信息
申请号: 201621265941.9 申请日: 2016-11-24
公开(公告)号: CN206399858U 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 李晓丰;段曦东;段镶锋;毛志浩 申请(专利权)人: 广东纳路纳米科技有限公司
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 广州番禺容大专利代理事务所(普通合伙)44326 代理人: 刘新年
地址: 510670 广东省广州市高新技术产业开*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 学分 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种光学分条机的线外检测系统,其特征在于,包括:支架,照明系统;所述支架安装于光学分条机的收卷端;被检测物料从光学分条机输出,经支架的中部穿过后在收卷轴上收卷;

所述支架顶端的上横梁上安装有线扫描相机组,所述线扫描相机组与计算机相连接;

所述照明系统用于照射被检测物料。

2.根据权利要求1所述的光学分条机的线外检测系统,其特征在于,所述照明系统包括透射光源和反射光源中的至少一种,所述反射光源安装于所述支架底端的下横梁上;所述透射光源为安装于车间上方天花板上的日光灯。

3.根据权利要求1所述的光学分条机的线外检测系统,其特征在于,所述线扫描相机组为一个或多个线扫描相机组成,多个线扫描相机沿支架顶端的上横梁横向排布。

4.根据权利要求1所述的光学分条机的线外检测系统,其特征在于,所述被检测物料包括透明导电膜、不透明导电膜或导电膜基材。

5.根据权利要求4所述的光学分条机的线外检测系统,其特征在于,所述导电膜基材厚度为23um、50um、75um、100um、125um、188um、225um或250um。

6.根据权利要求1所述的光学分条机的线外检测系统,其特征在于,所述被检测物料从光学分条机输出速度为0.1-500m/min。

7.根据权利要求1所述的光学分条机的线外检测系统,其特征在于,所述被检测物料的宽幅为120mm、240mm、340mm、390mm、450mm、500mm、550mm、600mm、650mm、800mm或1000mm。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东纳路纳米科技有限公司,未经广东纳路纳米科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201621265941.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top