[实用新型]一种基于光全散射法的颗粒测量系统有效
申请号: | 201621201781.1 | 申请日: | 2016-11-08 |
公开(公告)号: | CN206862832U | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | 周嵘;赵雪怡;刘演华 | 申请(专利权)人: | 河海大学常州校区 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 常州市科谊专利代理事务所32225 | 代理人: | 孙彬 |
地址: | 213022 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 散射 颗粒 测量 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种基于光全散射法的颗粒测量系统。
背景技术
颗粒存在于人们生活的方方面面,在工业生产中,颗粒的粒径分布和浓度大小产品质量和生产产量有一定的影响;而在人民日常生活中,空气中颗粒分布又会带来各类健康问题,影响到人们的身体健康。因此,对颗粒粒径分布的测量十分重要。
测量颗粒粒径分布的方法有多种,有筛分法、沉降法、显微镜法、电感应法等等。这些方法有其适用范围,但是缺点也较明显,例如:精确度过低、耗时较长,操作麻烦,成本高等。在这些方法中,光全散射法是较为简便的一种,它测量范围宽,且测量方法简便。只需测量射入颗粒系统前的入射光和射出后的出射光,再根据相关算法即可求得颗粒系统的粒径分布。
实用新型内容
本实用新型目的在于:基于光全散射法原理设计一种简便的双光路颗粒测量系统,为光全散射法测量颗粒粒径分布提供一个操作简便、数据准确的实验平台。该系统基于光全散射法原理,利用双光路测量系统,测量射入气溶胶颗粒的入射光和出射光,获得光强信号,输入计算机中求得气溶胶颗粒系统的粒径分布。
本实用新型的技术解决方案是:
一种基于光全散射法的颗粒测量系统,所述系统包括LED光源、聚光透镜一、聚光透镜二、光圈一、光圈二、准直透镜、分束镜、旋转机构、光纤耦合头一、光纤耦合头二、气溶胶颗粒、多元光纤分布板一、多元光纤分布板二、光电倍增管及放大管、计算机;所述LED光源为系统提供不同光强的点光源,所述LED光源发射出的光线通过聚光透镜一、光圈一以及准直透镜,变为系统所需要的平行光线光源,所述平行光线光源照射至分束镜,所述分束镜通过旋转机构控制,能够将光线路线改变为上下两个方向,上下两个方向之间相差180°,通过旋转机构实现切换;
光线向上的方向用于测量出射光信号,光线依次通过气溶胶颗粒、聚光透镜二、光圈二以及多元光纤分布板一,光线在气溶胶颗粒中发生散射,从气溶胶颗粒里出射的光线经过聚光透镜二和光圈二后,照射到多元光纤分布板一上,再经过光电倍增和放大管来放大信号,最终将出射光信号传输到计算机中,即为实验的出射光信号;
光线向下的方向用于测量入射光信号,光线依次通过光纤耦合头一、光纤耦合头二以及多元光纤分布板二,所述光纤耦合头一、光纤耦合头二之间通过传输光纤连接,最后经过光电倍增和放大管来放大信号,最终将入射光信号传输到计算机中,即为实验的入射光信号。
上述旋转机构包括笼式立方体框架、旋转轴、把手、固定槽、支架、底座;所述三角形的支架固定在底座上,所述支架顶端设置一个固定槽,所述固定槽内安装有把手,把手在旋转过程中都在固定槽内运动,不会窜动;所述笼式立方体框架用于安放立方体状的分束镜,所述旋转轴的一端连接笼式立方体框架,另一端与把手垂直相连。
上述支架和底座间布置有加强筋来增加强度。
上述笼式立方体框架为镂空状立方体框架,材质为硬质塑料,所述笼式立方体框架的C面为封闭面,封闭面与框架通过螺钉来固定,所述笼式立方体框架内八个角的位置都设有橡胶小圆柱,每一个角的三个面都有一个,用来固定分束镜使其不窜动,同时也保护分束镜不会受到撞击。
本实用新型所达到的有益效果:
本实用新型的一种基于光全散射法的颗粒测量系统,利用双光路测量实验中的入射光和出射光,并通过旋转机构的旋转带动分束镜的旋转,实现对光线的不同方向的反射,从而对不同光线进行测量。以往通过多个透镜组合来实现对光线的反射和光路的改变,或者选用一定分束比为50:50的半透半反镜来实现对入射光出射光的分配,这些方法增大了实验过程中光的损耗,同时实验结果也不够准确。本实用新型运用旋转机构,减小了光的损失以及光学器材对光的耗损,使得实验结果更加精确。
附图说明
图1是本实用新型一种基于光全散射法的颗粒测量系统的系统布置图;
图2是旋转机构的结构示意图;
图3是笼式立方体框架结构示意图;
图4是橡胶小圆柱示意图;
图 5是光线反射向下时旋转机构的位置图;
图6是图5中光线走向示意图;
图 7是光线反射向上时旋转机构的位置图;
图8是图7中光线走向示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案,而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
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