[实用新型]二氧化硫测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及使用非分散红外线吸收法(NDIR)的二氧化硫测量装置。

背景技术

红外线气体分析装置作为测量气体中的二氧化硫(SO₂)的浓度的装置而广为人知(参照专利文献1)。红外线气体分析装置在内部具备使试料气体流通的样品室，针对该样品室照射红外线并测量透过样品室的红外线的SO₂吸收波段的光量，由此定量试料气体中的SO₂浓度。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2005-69870号公报

实用新型内容

实用新型要解决的问题

SO₂在7.4μm附近具有红外线吸收带，甲烷(CH₄)在7.6μm附近具有红外线吸收带，因此吸收波长带具有重叠。因此，在基于NDIR的SO₂测量中，如果试料气体中存在CH₄，则CH₄会进行干涉，测量值受到影响，成为测量误差的主要因素。

一般地，CH₄干涉的影响程度用相对于SO₂测量装置的测量范围(全量程)的比例(％FS)进行评价，测量范围越小则干涉影响的程度(％FS)越大。例如，如果50mg/m³的CH₄存在于试料气体中，则一般地具有SO₂浓度为11mg/m³左右的影响，在测量范围为0～300mg/m³的情况下干涉影响为3.7％FS左右，在测量范围为0～200mg/m³的情况下干涉影响为7.4％FS左右。

作为在固定污染源的SO₂浓度的监视中使用的SO₂测量装置的要求性能，干涉影响在欧洲等通过法规进行规定。在中国，也发布了关于HJ/T76《固定污染源烟气排放连续监测系统技术要求及检测方法》的草案，据此，预定为，要求在试料气体中的CH₄浓度为50mg/m³的情况下CH₄的干涉影响至少为5％FS以下。在现有的SO₂测量装置中，存在着在测量范围为0～200mg/m³的低浓度范围的情况下难以满足上述要求的问题。

作为对CH₄干涉影响的对策，存在着如下的方法：同时测量试料气体中的CH₄浓度，使用该测量值修正SO₂测量装置的测量值。但是需要用于测量CH₄浓度的检测器、运算装置，存在着成本增大的问题。

在此，本实用新型的目的在于，以低成本且简单的构成降低CO₂测量装置中的CH₄的干涉影响。

解决问题的技术手段

本实用新型所涉及的二氧化硫测量装置包括：光源，其发出红外光；样品室，其配置于来自所述光源的红外光的光路上，并在内部使试料气体流通；CH₄过滤器，其在来自所述光源的红外光的光路上与所述样品室分开设置，并在内部封入有CH₄气体；检测器，其测量透过所述样品室以及所述CH₄过滤器的红外光的光量；以及运算处理部，其基于所述检测器的输出信号求出试料气体中的SO₂浓度。

所述CH₄过滤器的框体中，来自所述光源的红外线通过的窗口部以外的部分可以由金属构成。由于框体中窗口部以外的部分由金属构成，能够使CH₄过滤器变得坚固，能够防止CH₄气体泄漏等。作为构成框体的金属例如能够列举铝。

实用新型的效果

在本实用新型的二氧化硫测量装置中，由于在来自光源的红外线的光路上设置有封入了CH₄气体的CH₄过滤器，因此能够降低入射到检测器的红外光中的CH₄吸收波长波段的光的比例。由此，能够减低相对于SO₂测量值的CH₄的干涉影响。

附图说明

图1为表示二氧化硫测量装置的一实施例的概略构成图。

具体实施方式

以下，使用图1对二氧化硫测量装置的一实施例进行说明。