[实用新型]一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置

说明书

技术领域

本专利属于遥感探测与成像光谱仪定标领域，特别涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测的装置。

背景技术

由于红外探测元器件铸造工艺或环境变化原因，热红外高光谱图像会普遍存在盲元，盲元的存在对线阵推扫的热红外高光谱成像仪图像质量造成严重影响，对辐射定标精度也会造成影响。因此在图像辐射校正前盲元检测是必要环节，盲元的检测好坏直接影响图像后续的数据处理和图像质量评价。

目前盲元检测的方法包括基于实验室定标法和基于场景的方法，这些检测方法多针对单波段的面阵红外图像进行检测处理，多为基于图像空间维度的检测，热红外高光谱成像仪是目前高光谱成像研究的前沿载荷，在同一个红外焦平面实现几百个波段成像，盲元的存在对这成像方式图像质量造成严重影响，基于整图的检测和数据处理并不一定适用。因此，还需要研究针对热红外光谱成像仪盲元检测的特定装置。

发明内容

本专利所要解决的问题是：提供一种适用于热红外高光谱成像仪盲元检测的装置，装置从光谱维角度进行检测，解决了目前热红外高光谱成像仪盲元检测的难题。

一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置，所述的盲元检测装置包括黑体控制器1、标准黑体2、热红外高光谱成像仪3和计算机模块4，黑体控制器1与标准黑体2连接，计算机模块4与热红外高光谱成像仪3连接，热红外高光谱成像仪视场对准标准黑体并充满视场；

黑体控制器1设定标准黑体温度，标准黑体2发出热红外辐射，热红外辐射平行光充满热红外光谱成像仪3视场，热红外光谱成像仪3接收黑体辐射，计算机模块4控制成像仪进行数据采集，获得8-12.5μm热红外波段各个波段的热红外辐射数据，改变标准黑体(2)的温度，如此往复，获取不同温度下的8-12.5μm热红外辐射数据，由不同温度数据生成温升黑体热红外高光谱数据，生成盲元图像，完成盲元检测。

通过以上装置，本专利可以实现热红外高光谱成像仪盲元的高精度检测，从光谱维角度出发的检测装置可以有效避免常规方法漏检和虚检的不足，可大幅度提高了盲元检测精度。

附图说明

图1是热红外高光谱成像仪盲元检测的装置示意图，图中装置包括黑体控制器1、标准黑体2、热红外高光谱成像仪3和计算机模块4。

具体实施方式

下面结合附图对本专利做进一步描述。

图1描述了一种适用于热红外高光谱成像仪盲元检测的装置的组成结构图，按照图示将黑体控制器1、标准黑体2、热红外光谱成像仪3和计算机模块4进行组装；用计算机模块4控制热红外光谱成像仪，开启热红外光谱成像仪3，用黑体控制器1控制开启M345X标准黑体2，设置初始温度为-10℃，待温度稳定后计算机模块控制热红外高光谱成像仪采集存储获取8-12.5μm一组热红外辐射数据，数据采集行数为300行；

通过黑体控制器设置调节温度，升高温度大小为2℃，待温度稳定后计算机模块控制热红外高光谱成像仪采集存储新的一组数据，如此重复49次，成像光谱仪共获取50个不同的温度下的黑体辐射数据，温度范围为0-98℃，2℃间隔，将采集获取的50组数据按照温升进行波段叠加，获取温升黑体热红外高光谱数据，生成盲元图像，完成盲元检测。