[实用新型]高压带电绝缘子周围空间电场检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及信号采集领域，具体涉及一种高压带电绝缘子周围空间电场检测电路。

背景技术

复合绝缘子以其优异的防污闪性能在全国范围为得到广泛使用，但在运行过程中如何检测其性能状况是国内乃至世界范围的难题，这个问题甚至影响到了复合绝缘子大量推广使用的技术政策。目前大多供电局采用的是目测方法检测，这种方法不能保证检测出复合绝缘子内部的缺陷。随着合成绝缘子挂网运行周期越来越长，不可避免的会发生合成绝缘子劣化事故。伴随着合成绝缘子的劣化，有部分运行中的合成绝缘子有脆断、击穿的趋势。采用目测对合成绝缘子进行带电检测，并不能找到隐藏在硅橡胶下面的、玻璃纤维芯棒内部的缺陷。用电场法对复合绝缘子进行带电检测很有必要。

长期以来的试验结果证明，复合绝缘子的导通性缺陷及其局部的绝缘劣化可以通过沿绝缘子串轴向分布的场强变化而灵敏的反应出来。因此，我们采用高灵敏度的电场传感器和场强分布测量分析等多项专利技术可以有效的发现复合绝缘子的绝缘劣化现象，此项技术填补了复合绝缘子劣化在线检测技术的空白。

实用新型内容

针对上述技术问题，本实用新型的目的在于提供一种高压带电绝缘子周围空间电场检测电路，具体技术方案如下：

一种高压带电绝缘子周围空间电场检测电路,包括并联的入口电容C1、电阻R1、过压保护TVS管D，所述入口电容C1、电阻R1、过压保护TVS管D的一端连接输入信号AD_IN，另一端连接至信号地SGND；该检测电路还包括滤波电容C2，所述滤波电容C2的一端串接输入信号AD_IN，另一端连接限制电阻一R2和限制电阻二R3，限制电阻一R2的另一端连接电源，限制电阻二R3的另一端连接至信号地SGND；所述限制电阻一R2和限制电阻二R3为输入信号输入抬升，能够将输入信号AD_IN抬升到CPU能够识别的电压范围，从AD_TEST输出进行比较。

本实用新型高压带电绝缘子周围空间电场检测电路，将检测到的复合绝缘子周围的电场信号输入电路，通过电路将输入信号抬升到CPU能够识别的电压范围并与其它检测电路的检测结果一起进行比较，进而判断复合绝缘子的内部是否有缺陷，电路信号处理精度高；滤波效果好，误差小，检测精度高。

附图说明

图1为本实用新型高压带电绝缘子周围空间电场检测电路图

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型作详细说明。

如图1所示，本实用新型一种高压带电绝缘子周围空间电场检测电路,包括并联的入口电容C1、电阻R1、过压保护TVS管D，所述入口电容C1、电阻R1、过压保护TVS管D的一端连接输入信号AD_IN，另一端连接至信号地SGND；该检测电路还包括滤波电容C2，所述滤波电容C2的一端串接输入信号AD_IN，另一端连接限制电阻一R2和限制电阻二R3，限制电阻一R2的另一端连接电源，限制电阻二R3的另一端连接至信号地SGND；所述限制电阻一R2和限制电阻二R3为输入信号输入抬升，能够将输入信号AD_IN抬升到CPU能够识别的电压范围，从AD_TEST输出进行比较。

具体的，本实用新型高压带电绝缘子周围空间电场检测电路的入口电容C1采用104电容，电阻R1为500KΩ、过压保护TVS管D的型号选用1.5KE-6.8A，滤波电容C2为1μF，限制电阻一R2和限制电阻二R3均采用100KΩ，限制电阻一R2连接3.3VA电源。

本实用新型高压带电绝缘子周围空间电场检测电路，将检测到的复合绝缘子周围的电场信号输入电路，通过电路将输入信号抬升到CPU能够识别的电压范围并与其它检测电路的检测结果一起进行比较，进而判断复合绝缘子的内部是否有缺陷，电路信号处理精度高；滤波效果好，误差小，检测精度高。