[实用新型]一种用于继电器的测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种用于继电器的测试设备，属于半导体领域。

背景技术

通常在半导体领域，一颗芯片的成本大多集中在半导体测试带来的压力。

在半导体测试时，会有大量的继电器应用到FT与CP测试的接口电路板上。用于切换测试通道，调整电路等诸多功能。而继电器的好坏，会直接影响测试的质量和测试的效率。所以，为了对测试时所需要的基本检测，开发一款继电器测试设备是必不可少的，用于排除所需继电器的不良品。降低由此而导致的测试成本。

有鉴于上述的缺陷，本设计人，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的用于继电器的测试设备，使其更具有产业上的利用价值。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的是提供一种用于继电器的测试设备。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种用于继电器的测试设备，包括继电器测试主板电路及MCU单元，所述继电器测试主板电路的输入端与电源单元的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与扩展/驱动电路的输入端相连，所述继电器测试主板电路的输入端与测试兼容治具的输出端相连，所述继电器测试主板电路的输出端与MCU单元的输入端相连，所述MCU单元的输入端还与电源单元、扩展/驱动电路及测试兼容治具的输出端相连，所述MCU单元的输出端与上位机的输入端相连。

更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述扩展/驱动电路为 74HC373驱动电路，或为74HC238IO扩展电路。

再更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述测试兼容治具为兼容PCB接口/插槽式的治具。

再更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述继电器测试主板电路与被测产品之间连接有传输线。

再更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，所述传输线设有延时时间T，其公式如下：

其中，L：传输线的总长；

C：光速3×10⁸m/s；

ε：PCB介质的介电常数。

再更进一步的，所述的用于继电器的测试设备，其中，还包括过流保护单元，所述过流保护单元与继电器测试主板电路相连。

借由上述方案，本实用新型至少具有以下优点：

1)对入库继电器进行检测，排除不合格继电器，避免不合格继电器对后续产品的功能和故障排查造成直接或间接的影响，降低应用成本。

2)帮助测试人员解决了测试时，对继电器的故障排查，减轻了测试人员的工作量，有助于缩短测试周期，降低测试成本。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是继电器测试主板电路的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例