[实用新型]一种用于继电器的测试设备有效

专利信息
申请号: 201620877368.0 申请日: 2016-08-15
公开(公告)号: CN206470367U 公开(公告)日: 2017-09-05
发明(设计)人: 施元军;郭靖;刘凯 申请(专利权)人: 苏州韬盛电子科技有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)11357 代理人: 刘洪勋
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 继电器 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种用于继电器的测试设备,其特征在于:包括继电器测试主板电路及MCU单元,所述继电器测试主板电路的输入端与电源单元的输出端相连,所述继电器测试主板电路的输出端与扩展/驱动电路的输入端相连,所述继电器测试主板电路的输入端与测试兼容治具的输出端相连,所述继电器测试主板电路的输出端与MCU单元的输入端相连,所述MCU单元的输入端还与电源单元、扩展/驱动电路及测试兼容治具的输出端相连,所述MCU单元的输出端与上位机的输入端相连。

2.根据权利要求1所述的用于继电器的测试设备,其特征在于:所述扩展/驱动电路为74HC373驱动电路,或为74HC238IO扩展电路。

3.根据权利要求1所述的用于继电器的测试设备,其特征在于:所述测试兼容治具为兼容PCB接口/插槽式的治具。

4.根据权利要求1所述的用于继电器的测试设备,其特征在于:所述继电器测试主板电路与被测产品之间连接有传输线。

5.根据权利要求4所述的用于继电器的测试设备,其特征在于:所述传输线设有延时时间T,其公式如下:

其中,L:传输线的总长;

C:光速3×108m/s;

ε:PCB介质的介电常数。

6.根据权利要求1至5中任意一项中所述的用于继电器的测试设备,其特征在于:还包括过流保护单元,所述过流保护单元与继电器测试主板电路相连。

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