[发明专利]一种电子材料中金元素含量的检测方法

说明书

本发明提供一种可以有效检测出电子材料中金元素含量的方法。该方法是用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP‑OES)来分析测试的，被测的电子材料样品在前处理时需用配有高压消解罐的微波消解系统进行加酸消解。

技术领域

本发明涉及一种电子材料中金元素含量的检测方法，属于电子电气产品中有毒有害物质检测技术领域。

背景技术

金在自然界中一般以单质的形式出现，即金属状态。金是延展性最高的元素，也是化学性质最不活泼的金属元素。金是一种过渡金属，在溶解后可以形成三价及单价正离子。金具有良好的导电性和导热性，常用在3C产品的电路板上。金又非常容易加工成超薄金箔，微米金丝和金粉，很容易镀到其它金属和陶器及玻璃的表面上，一些电子测量仪器的接头通过镀金可以避免氧化，金还可以制成超导体与有机金等。所以金可以广泛运用到电子技术、通讯技术、化工技术、医疗技术等很多现代高新技术产业中去。因此对于电子材料中是否存在金元素以及金元素的含量是多少，需要一种检测方法来检测。

发明内容

针对电子材料中需要检测金元素的含量，本发明提供一种可以定量检测电子材料中金元素含量的方法。

本发明包括使用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)测试电子材料中金元素的含量以及对相关电子材料样品前处理时用配有高压消解罐的微波消解系统进行加酸消解。

附图说明

附图1为本发明实施例的操作流程图。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的优点与功效。本发明也可通过其他不同的具体实例加以实施或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不背离本发明的精神下进行各种修饰与变更。

本发明实施例的操作流程图，如图1所示，称取0.2g样品于消解罐中，精确至0.1mg，分别缓慢加入9ml左右的浓硝酸及3ml左右的氢氟酸作为消解剂，密封并将消解罐放入微波系统中以适当的升温程序加热，消解完全后冷却至室温，过滤转至100ml容量瓶中，去离子水定容至刻度，摇匀待测，采用相同的试剂，在相同的条件下进行空白实验，再配置好标准溶液，用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)定量分析，建立标准曲线后，测定空白、样品溶液，依据每个试样的信号读数，由标准曲线查得所对应的浓度。

本发明的样品前处理中，加入的消解剂也可根据样品氧化程度的需要分别选加其他试剂(如加入2±2ml浓HCl至硝酸和盐酸的混合物中；加入0.1～2ml 30％的双氧水；加入0～5ml的二次去离子水)，消解完冷却的过程中，需加入适量硼酸与氟离子络合，以保护石英等离子火炬。

上述实施例仅为示例性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施进行修饰与变化。因此，本发明的权利保护范围，应以权利要求书的范围为依据。