[发明专利]一种双探针飞针测试装置的校准方法

说明书

本发明公开了一种双探针飞针测试装置的校准方法，包括：获取固定探针当探头从其旋转轴的原点开始自转0度时的第一坐标、自转90度时的第二坐标、和自转180度的第三坐标；获取移动探针当其距离固定探针初始距离时的第四坐标以及当其距离固定探针预设距离时的第五坐标；获取摄像单元的坐标；根据所述第一、第二、第三、第四、第五坐标和摄像单元的坐标，获取当固定探针和所述移动探针的距离为第一距离、固定探针和移动探针的连线与X轴夹角为第一角度时，固定探针到摄像单元的距离；根据固定探针到摄像单元的距离对双探针飞针测试装置进行校准。由此，实现对双探针位置的校准，保证双探针能够准确地扎到被测线路板上对应的点。

技术领域

本发明涉及线路板测试技术领域，具体涉及一种双探针飞针测试装置的校准方法。

背景技术

飞针测试是一种线路板测试技术，具体通过两根探针同时接触线路板上的两个端点并进行通电，根据所获得的电学量进行开短路判断。图1是现有的一种探头的示意图，其中，每个探头上只有一根探针和一个CCD摄像头，通过CCD观察被测线路板，可以实现CCD和被测线路板的精确定位，然而为了实现探针和被测线路板的精确定位，必须获取CCD和探针的位置关系。为了获取CCD和探针的位置关系，可以通过使探针扎一个圆焊盘的方法找出圆盘中心，记录下探针对准圆盘中心时的机械坐标,然后移动CCD，使CCD中心对准圆盘中心，记录下此时CCD的机械坐标，通过以上两个机械坐标就可以得到CCD到针尖的位移。

然而，由于测试一对端点需要移动两个探头，这种单探针的探头测试效率不高。如果为了提高效率在探头上设置多个探针，则仍需获得CCD和多个探针之间的位置关系，但上述的获取CCD和探针位置关系的方法又不再适用。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于，现有的单探针测试技术效率不高，而现有的校准方法不适用于具有多探针的探头。

为此，本发明实施例提供了一种双探针飞针测试装置的校准方法，所述飞针测试装置包括安装在同一探头上的摄像单元和所述双探针，所述双探针包括所述固定探针和可调节与所述固定探针距离的移动探针，所述探头可围绕其旋转轴自转和在X-Y轴上平移，所述方法包括：获取所述固定探针当所述探头从其旋转轴的原点开始自转0度时的第一坐标、自转90度时的第二坐标、和自转180度的第三坐标；获取所述移动探针当其距离所述固定探针初始距离时的第四坐标以及当其距离所述固定探针预设距离时的第五坐标；获取所述摄像单元的坐标；根据所述第一、第二、第三、第四、第五坐标和所述摄像单元的坐标，获取当所述固定探针和所述移动探针的距离为第一距离D、所述固定探针和所述移动探针的连线与所述X轴夹角为第一角度aN时，所述固定探针到所述摄像单元的距离；根据所述固定探针到所述摄像单元的距离对所述双探针飞针测试装置进行校准。

可选的，所述获取所述固定探针当所述探头从其旋转轴的原点开始自转0度时的第一坐标、自转90度时的第二坐标、自转180度的第三坐标包括：当所述探头从其旋转轴的原点开始自转0度时，移动所述探头使所述固定探针对准校准零点，获取所述第一坐标；当所述探头从其旋转轴的原点开始自转90度时，移动所述探头使所述固定探针对准所述校准零点，获取所述第一坐标；当所述探头从其旋转轴的原点开始自转180度时，移动所述探头使所述固定探针对准所述校准零点，获取所述第三坐标。

可选的，所述获取所述移动探针当其距离所述固定探针初始距离时的第四坐标以及当其距离所述固定探针预设距离时的第五坐标包括：旋转所述探头到其旋转轴的原点；移动所述移动探针使所述移动探针距离所述固定探针所述初始距离；移动所述探头使所述移动探针对准校准零点，获取所述第四坐标；移动所述移动探针使所述移动探针距离所述固定探针所述预设距离；移动所述探头使所述移动探针对准所述校准零点，获取所述第五坐标；所述获取所述摄像单元的坐标包括：移动所述探头使所述摄像单元的中心对准所述校准零点，获取所述摄像单元的坐标。